판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #293610638

ID: 293610638
빈티지: 2000
Wafer prober Chiller included 2000 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8i는 TEL이 설계 한 프로버로, 특히 생산 바닥 테스트에 사용됩니다. 이 장치는 8 인치 진공 웨이퍼 프로빙 기술로 제작되었으며 TOKYO ELECTRON 고급 MEMS 기반 XY 평면 스캔 및 자동 초점 기능을 갖추고 있어 정확하고 반복 가능한 측정을 제공합니다. 또한, TEL P8I는 모든 결과가 정확하고 일관성을 보장하는 고급 폐쇄 루프 피드백 시스템 (closed-loop feedback system) 을 자랑하며, 다중 구역 공기 여과 시스템은 프로브 환경이 공중 오염 물질과 먼지가 없도록 보장합니다. 이 장치는 고정밀 마이크로미터 스테이지 및 1500-lb와 같은 강력한 하드웨어를 갖추고 있습니다. 로드 용량, 다양한 웨이퍼 크기를 수용 할 수 있습니다. 또한 TOKYO ELECTRON P 8 I는 AC/DC, RF 및 고속 스캔과 같은 여러 프로브 기능을 통합하여 다목적 테스트를 지원합니다. 또한, 자동 보정, 스크립팅과 같은 수많은 소프트웨어 기능을 통합하여 설치 및 작업을 쉽게 수행할 수 있습니다. P8I는 종합 생산 연구소의 필수 구성 요소로 설계되었습니다. 자동 루프 (closed-loop) 다중 프로버 시스템을 장착하여 무인 프로브를 허용합니다. 자동화된 웨이퍼 (Wafer) 처리 및 정렬 (Alignment) 시스템을 통합함으로써, 디바이스는 처리량을 극대화하고 다운타임을 최소화하여 여러 웨이퍼를 동시에 신속하게 테스트할 수 있습니다. 또한 TEL/TOKYO ELECTRON P8I 에는 전체 데이터 관리 유틸리티가 포함되어 있으므로 Wafer 테스트 결과를 캡처, 저장 및 분석할 수 있습니다. 수집된 모든 데이터는 보안 데이터베이스 (secure database) 에 안전하게 저장되며, 중요한 정보를 저장하지 않고도 다른 시스템과 네트워크를 연결하여 추가 분석 작업을 수행할 수 있습니다. 전반적으로 TOKYO ELECTRON P-8i (도쿄 전자 P-8i) 는 생산 환경에서 안정적이고 정확한 웨이퍼 프로브를 제공하도록 설계된 고급 프로버입니다. 다목적 Probing 기능, 자동화된 시스템, 포괄적인 데이터 관리 기능을 통합함으로써, 이 장치는 다양한 Wafer (웨이퍼) 를 테스트하는 다용도 및 효율적인 도구입니다.
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