판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9407565

ID: 9407565
Prober Boards: MVME147 IP DP MVME316 GPIB.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 반도체 장치 테스트를 위해 TEL/Toshiba가 개발 한 최첨단 전문가입니다. TEL P8에는 8 "웨이퍼 매퍼, 고해상도 Z 축 동작 및 8 축 고속 웨이퍼 스테이지가 장착되어 있습니다. Wafer Mapper의 최대 해상도는 0.5jm 피치이며 High Resolution Z-Axis Motion (X, Y 및 Z 모션 범위) 은 최대 4m입니다. 8 축 고속 웨이퍼 스태이지는 위치 정밀도 0.05zm/Axis 및 30 m/sec 샘플 속도와 0.5zm/sec 웨이퍼 처리 속도를 사용합니다. TOKYO ELECTRON P 8은 또한 자동 수명 (Automatic Lifetime) 및 스페이서 보상 (Spacer Compensation) 장비를 갖추고 있으며 테스트 중인 장치와 관련하여 프로브 헤드의 정확하고 반복 가능한 위치를 지정할 수 있습니다. 이 시스템에는 비접촉 포지셔닝용 Touch Off Unit 및 Probe 헤드 위치를 미세하게 조정하는 Tester Alignment Machine이 포함됩니다. 또한, P-8은 장치 보호를위한 신뢰성이 높고 스트레스가없는 도구를 자랑하며, ESD, 오염 및 진동으로부터 보호합니다. 도쿄 전자 P8 (TOKYO ELECTRON P8) 은 또한 전하 붕괴를 제어하는 효율적인 방법을 제공하여 측정 반복 성, 장치 안정성 및 테스트 유지 관리를 향상시킵니다. 이 모델에는 전하 전달을위한 비 접촉 정전 식 에디 전류 센서 (eddy current sensor) 와 전하 축적 억제를위한 펄스 전류 분사 (pulsed current injection) 도 포함되어 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P8은 반도체 제품 테스트에 도전하는 완벽한 올인원 솔루션입니다. 외관, 탐지, 위치 지정 정확도, 보호 기능, 정적 방지 제어 시스템 (Anti-Static Control System) 의 조합으로 반도체 웨이퍼 및 패키지 장치의 제조 및 테스트에 이상적인 도구입니다. TEL P 8을 사용하면 결함 최소화, 신속한 결과, 뛰어난 장치 수명 등 효율적인 테스트를 수행할 수 있습니다.
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