판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9384603

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 접촉 저항, 정전기 및 인덕턴스를 포함한 반도체 웨이퍼 및 장치의 물리적 특성을 감지하는 데 사용되는 전문가입니다. 일반적으로 웨이퍼 레벨 테스트에 사용되며 전극 간격, 선 너비, 사변형 (coplanarity) 및 석판화 정확도를 포함한 여러 매개변수를 검증하는 데 사용할 수 있습니다. TEL P8 (TEL P8) 은 웨이퍼 레벨에서 장치 매개변수를 측정하도록 설계된 매우 정확한 자동 Prober 장비입니다. 저항성 (resistance) 이나 유전성 (dielectric constant) 과 같은 전기 특성을 정확하게 측정하려면 웨이퍼 표면이 깨끗하고 건조한 상태로 유지되어야 합니다. 이를 달성하기 위해 TOKYO ELECTRON P 8은 고급 진공 시스템을 사용하여 환경으로부터 수분, 입자 및 잔해가 도입되는 것을 방지합니다. 이렇게 하면 프로브 하기 전 에 "웨이퍼 '의 표면 이 가능 한 한 깨끗 하게 유지 된다. 이 장치에는 고급 포지셔닝 머신 (advanced positioning machine) 도 장착되어 있으며, 테스트 중인 웨이퍼 (wafer) 에 있는 각 패드의 정확한 위치를 만드는 데 사용됩니다. 이것은 정밀 레이저 검출기를 사용하여 웨이퍼 (wafer) 와 프로버 (prober) 의 위치를 지속적으로 모니터링함으로써 달성된다. 이 고해상도 위치화 (High-resolution positioning) 도구는 매우 정확하여 웨이퍼 수준에서 관찰되는 전기 특성 및 기타 장치 매개변수를 반복적으로 측정 할 수 있습니다. 에셋은 고밀도 프로그래밍 가능한 X/Y 플랫폼을 사용하여 웨이퍼에 대한 제어되고 안정적인 접근을 가능하게합니다. 기계적으로 안정적인 플랫폼 (mechanically stable platform) 은 또한 작동 프로그램이 Probe 프로세스의 모든 측면을 완전히 제어할 수 있도록 합니다. 또한, TEL P-8에는 웨이퍼의 다양한 전기 특성을 측정하는 데 사용되는 일련의 디지털 멀티 미터 장치 및 프로브 (Probe) 가 포함되어 있습니다. 이를 통해 접촉 저항, 정전 용량 및 인덕턴스의 정확한 측정이 가능합니다. 고정밀도 포지셔닝, 정밀한 환경, 정밀도 다중 미터의 조합을 통해 TOKYO ELECTRON P8은 매우 짧은 시간 내에 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 결과적으로 P-8은 웨이퍼 레벨 테스트 요구 사항에 귀중한 도구입니다.