판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9361265

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 반도체 장치의 전기 특성을 정확하게 측정하도록 설계된 자동 웨이퍼 프로버입니다. 이 Prober는 정확하고, 반복 가능하며, 신뢰할 수 있는 결과를 제공하기 위해 처리량을 최대화할 수 있도록 설계되었습니다. 장비는 트레이 로딩 메커니즘, 웨이퍼 전송 모듈 (Wafer Transport Module), 레이저 형태의 프로버 (Prober), 정렬 도구 및 옵션 프로브 카드 캐디로 구성됩니다. 트레이 로딩 메커니즘을 통해 사용자는 프로버에 여러 웨이퍼를 빠르고 쉽게 로드할 수 있습니다. 웨이퍼 (wafer) 전송 모듈은 트레이에서 프로버 (prober) 및 백 (back) 으로 웨이퍼를 운송합니다. 이것은 진공 제어 운송 시스템과 로봇 팔을 사용하여 수행됩니다. 레이저 정렬 공구는 프로버에 웨이퍼를 정렬하도록 특별히 설계되었습니다. 이를 통해 프로버 (Prober) 의 프로브 (Probe) 는 안정적인 테스트를 위해 최적의 위치에서 테스트되는 장치와 접촉합니다. 프로버 자체는 TEL P8 장치의 핵심 구성 요소입니다. 모듈식 (modular) 설계를 통해 백엔드 테스트와 같은 다른 프로세스에 통합할 수 있습니다. 전류 누출 (current leakage), 고장 전압 (breakdown voltage), 게이트 커패시턴스 (gate capacitance) 와 같은 반도체 장치의 전기 특성을 측정하는 데 사용할 수 있습니다. 오픈 플랫폼 프로버 (open platform prober) 는 다양한 패널 크기를 수용하여 특수 장치를 테스트할 수 있습니다. 또한 고속 Probe 포지셔닝 머신 (Positioning Machine) 을 통해 다양한 구성에서 테스트할 수 있습니다. 옵션 Probe 카드 캐디는 여러 Probe 카드 유형과 호환됩니다. 이를 통해 사용자는 다양한 유형의 측정 도구를 사용하여 테스트를 수행할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 8 도구는 비전 에셋과 통합되어, 사용자가 시각적 검사 및 웨이퍼 매핑을 활용할 수 있게 해 줍니다. P8은 신뢰할 수 있고, 반복 가능하며, 정확한 테스트 결과를 제공 할 수있는 고급 자동 웨이퍼 전문가입니다. 이 모델은 트레이 로딩 메커니즘, 웨이퍼 전송 모듈, 프로버, 레이저 정렬 도구 및 옵션 Probe 카드 캐디로 구성됩니다. 모듈식 설계로 인해 Prober는 다른 프로세스와 호환되며, 여러 패널 크기를 수용할 수 있습니다. 고속 프로브 (High-Speed Probe) 포지셔닝 장비를 통해 시스템은 다양한 테스트 구성과 검사 용도에 적합합니다. 마지막으로, 이 장치는 사용자 친화적이며 작동이 간편하며, 사용자에게 신속하고 효율적으로 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 있는 (영문) 기능을 제공합니다.