판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9245565

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 TEL (TOKYO ELECTRON) 의 프로 버 장비로, 반도체 웨이퍼 또는 인쇄 회로 기판에서 특정 전기 접점 및 기타 작은 부품을 조사하는 데 사용됩니다. 정확하고 고해상도 분석을 제공하는 AFM (Atomic Force Microscope) 모듈이 특징입니다. 또한, 고도의 정전기 처킹 시스템 (How Accuracy Electrostatic Chucking System) 과 통합되어, 고르고 안정적인 힘을 가하여 센서와 샘플 사이에 일정하고 안전한 접촉을 유지합니다. TEL P8 의 자동 초점 장치 (auto focus unit) 는 환경 장애로 인한 영향을 최소화하면서 조정 가능한 감지 간격을 정확하게 설정합니다. 또한 필요한 조건 단위의 자동 인식 (auto-recognition) 을 통해 최적의 매개변수 설정을 신속하게 준비하여 정확한 측정 결과를 얻을 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 8 (TOKYO ELECTRON P 8) 은 더 빠른 시간 안에 샘플의 더 넓은 영역을 조사 할 수있는 고속 스캔 기능을 제공합니다. 또한 반복성 (repeatability) 에 최적화되어, 모든 측정값에 대해 일관되고 안정적인 결과를 제공합니다. 이는 반도체 및 인쇄 회로 기판에서 매우 정확한 측정에 이상적입니다. 자동 학습 기능 (auto-learning feature) 은 샘플의 다른 기계적 특성에 빠르게 적응하여 매우 정확한 조사를 용이하게합니다. 효율성을 위해 TEL P-8 은 이더넷 포트와 다중 창 GUI 를 구축하여 시스템을 제어하고 모니터링합니다. 이 기계는 또한 노출 된 표면의 3 차원 프로파일 측정과 같은 특수 기능 및 측정을 제공합니다. 또한 다양한 액세서리 (옵션) 를 통해 다양한 장치를 손쉽게 처리할 수 있습니다. 전반적으로 TOKYO ELECTRON P8은 안정성과 반복성에 최적화된 고성능, 정확한 Prober 도구입니다. AFM 모듈은 매우 상세한 측정값을 제공하며, 조절 가능한 감지 간격 (sensing gap) 은 샘플과 지속적으로 안전하게 접촉하는 데 도움이됩니다. 고속 스캔 기능과 다중 창 GUI 또한 편리성과 빠른 데이터 분석을 보장합니다. 반도체 및 인쇄 회로 기판을 조사하는 데 이상적인 선택입니다.