판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9203146

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 R&D 및 검증 환경에서 웨이퍼 레벨 장치의 전기 화학 특성화에 적합한 자동 정밀 프로버입니다. 프로브 (Probe) 팁에서 장치를 검사하기위한 고급 이미징 모듈을 갖춘 통합 노출 (Exposure) 장비가 장착되어 있습니다. 이 시스템은 또한 고급 CCD 이미징 (CCD Imaging) 카메라가 장착되어 있는데, 이를 통해 사용자는 Prober에서 장치를 제거하지 않고도 테스트 중인 장치의 고품질 이미지를 찍을 수 있습니다. TEL P8 Prober는 광범위한 장치 크기에 대한 정확하고, 고해상도 전기 프로브 (Electrical Probing) 를 제공하도록 설계되었습니다. 이 장치는 50 미크론 피치 (pitch) 까지 프로브 다운하여 광범위한 장치 매개변수를 수용할 수 있으며, 사용자에게 상당한 유연성을 제공합니다. 이 검사는 전류 전압 (IV) 데이터 수집 및 소스 측정 장치 (SMU) 테스트를 포함하여 다양한 전기 테스트 시나리오를 프로그래밍 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 8 Prober에는 최고의 프로브 결과를 위해 프로브 높이와 스프링 힘을 자동으로 최적화하는 혁신적인 프로브 컨트롤 머신 (Probe Control Machine) 이 장착되어 있습니다. 다양한 프로브 (Probe) 와 액세서리 (Accessory) 를 제공하여 사용자가 특정 애플리케이션 요구에 맞게 도구를 사용자 정의할 수 있습니다. 이러한 수준의 사용자 정의 (customization) 를 통해 사용자는 다양한 장치를 테스트할 수 있으므로 최고의 반복성과 정확성을 보장할 수 있습니다. 이 프로버는 또한 환경 스트레스 (Environmental Stressor) 와 무관하게 환경 조건 측면에서 가장 높은 신뢰성과 유연성을 제공합니다. 여기에는 온도와 습도, 수집 된 데이터의 품질에 중요한 요소 모두 제어하는 것이 포함됩니다. P-8 Prober는 질소 제거 자산 (Nitrogen Purge Asset) 을 포함하여 안전을위한 몇 가지 기능을 제공하여 테스트에 안전하고 안전한 환경을 제공합니다. TEL/TOKYO ELECTRON P8은 또한 최대 효율성을 위해 설계되어 솔레노이드 기반 접촉 모델을 제공합니다. 이 장비를 통해 사용자는 최소한의 노력으로 다른 전기 접점 (Electrical Contact) 을 신속하게 변경하여 테스트 중에 귀중한 시간을 절약할 수 있습니다. 솔레노이드 접촉 시스템 (Solenoid Contact System) 은 또한 프로브 팁 주변의 영역에 대한 마모와 눈물을 최소화하여 단락 또는 손상 위험을 줄입니다. 전체적으로 TOKYO ELECTRON P8 Prober는 광범위한 장치 매개변수에 대한 정밀도, 유연성 및 신뢰성을 제공합니다. 전기화학적 특성화환경 (electrochemical characterizing environment) 을 위한 완벽한 도구로서, 사용자는 다양한 장치를 빠르고 정확하게 테스트할 수 있습니다.