판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9167949

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 반도체 칩 테스트 및 조사를 위해 설계된 고급형 프로 버 장비입니다. 반도체 칩과 주사위 (dice) 의 취급· 테스트를 자동화하는 신뢰성이 높은 시스템이다. TEL P8 prober의 주요 특징으로는 정전 형 프로브 장치, 진동 격리 테이블, 표면 매핑 기계 및 고해상도 이미징 도구가 있습니다. TOKYO ELECTRON P 8 prober의 정전식 프로브 자산은 우수한 측정 정확도와 데이터 품질을 제공하여 절연 게이트 양극성 트랜지스터 (IGBT) 및 기타 표면 실장 부품을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 확장 전압 범위 (extended voltage range) 와 폐쇄 루프 제어 모델 (closed loop control model) 을 제공하며, 민감한 전기 시스템에 대한 손상 위험이 낮고 빠르게 프로브를 수행 할 수 있습니다. 정전기 프로브 (capacitive probe) 장비에는 자동화된 Probe 변환 기능이 있어 테스트 결과를 최적화하기 위해 다양한 Probe 기술 사이를 초 단위로 전환할 수 있습니다. P8 프로버 (P8 prober) 의 진동 격리 테이블은 시스템의 테스트 결과에 대한 외부 진동의 영향을 최소화하는 데 도움이됩니다. 저진폭 재료, 진동을 줄이기 위해 설계된 한 쌍의 선형 액추에이터 (linear actuator) 와 댐퍼 (damper), 측정을위한 꾸준한 플랫폼을 제공하는 조절 가능한 스프링 아이솔레이터 (spring isolator) 가 특징입니다. TEL P 8 프로버의 표면 매핑 장치를 사용하면 반도체 칩 (예: 표면 거칠기, 전력 밀도, 장치 크기) 과 관련된 다양한 매개 변수를 관찰 할 수 있습니다. 그것 은 주사 전자 현미경, 회절 격자, "이미징 머신 '을 이용 하여" 칩' 의 표면 을 지도 하여 "칩 '의 내부 구조 에 대한 통찰력 을 갖게 한다. TOKYO ELECTRON P-8 prober의 고해상도 이미징 도구는 장치의 자세한 이미징을 허용합니다. 프레임 속도가 높고 이득 (high gain) 카메라가 높으므로 칩의 전체 필드 모자이크 (full-field mosaic) 를 자세히 볼 수 있습니다. 이 에셋은 또한 고급 이미지 처리 (advanced image processing) 기능을 제공하여 여러 이미지를 함께 스티칭하고 여러 이미지를 평균할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P8은 다재다능하고 신뢰할 수있는 프로버 모델로, 반도체 칩에 대한 정확하고 안정적인 테스트 및 프로브를 제공합니다. 첨단 기능을 통해 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있으며, 반도체 칩 테스트/조사를 위한 효율적이고 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다 (영문).