판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9167947

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober는 반도체 부품을 청소, 검사 및 테스트하는 데 사용되는 웨이퍼 프로버입니다. 기판 및 유전체 테스트, 웨이퍼 프로브 (wafer probing), 접촉없는 프로브 (contactless probing) 및 다이 첨부 (die attach) 등 다양한 작업을 수행 할 수있는 완전 자동화 된 도구입니다. TEL P8 은 저용량 (low-low-volume) 에서 대용량 (high-volume) 까지 모든 생산 수준의 요구를 충족하도록 설계된 구성 가능한 장비입니다. 프로버에는 8축 동작 제어 시스템 (motion control system) 이 있으며, 이를 통해 사용자는 프로브 카드에 다이를 정확하고 정확하게 정렬 할 수 있습니다. 이 장치는 밀폐된 스탠드에 설정되어 있고, 두 개의 축 (x 및 y 방향) 을 따라 이동하며, Z축에서 회전 이동을 제공합니다. 동작 제어기는 빠르고 정확한 움직임을 위해 고속 서보 모터로 구동됩니다. TOKYO ELECTRON P 8에는 프레서 및 필링 스테이지에 대한 조정 가능한 압력 설정이 있습니다. 압력은 최대 8MPa까지 조정할 수 있습니다. 또한 추가 테스트를 위해 장치별 모듈, 사용자 정의 도구를 장착할 수 있습니다. 동작 제어 자산 외에도 TOKYO ELECTRON P8 Prober에는 정렬 및 검사를위한 비전 모델이 포함되어 있습니다. 프로버 (Prober) 는 고화질 카메라와 상단 및 하단 표면에서 미세한 기능을 인식 할 수있는 최신 소프트웨어를 사용합니다. 이 기능을 사용하면 테스트 결과의 정확성을 높이기 위해 장비 (장비) 에서 측정, 검사, 인식 작업을 수행할 수 있습니다. 프로버는 또한 다양한 센서를 사용하여 TEL P 8의 작동을 모니터링합니다. 이러한 센서에는 온도 센서, 압력 센서, 진공 센서, 힘 센서 및 인코더가 포함됩니다. 이러한 센서가 제공하는 정보는 사용자가 테스트 조건을 모니터링, 조정하는 데 도움이 됩니다. 센서 데이터를 사용하여 TEL/TOKYO ELECTRON P 8을 디버그할 수도 있습니다. 마지막으로 P 8 Prober는 긴 수명, 낮은 소유 비용 (TCO) 을 지닌 신뢰할 수있는 전기 테스트 툴로 설계되었습니다. 이 시스템은 확장 가능한 아키텍처를 갖추고 있으며, 특정 제품 요구사항에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. 이 장치에는 직관적 인 인터페이스가 있으며 사용하기 쉽습니다. TEL P-8 Prober는 테스트 요구 사항을 충족하는 안정적이고 효율적인 솔루션입니다.