판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809519

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 반도체 웨이퍼의 테스트 및 평가를 용이하게하도록 설계된 고급 전문가입니다. TEL P8 (TEL P8) 은 웨이퍼 표면에서 광범위한 매개변수를 측정 할 수있는 다기능 플랫폼입니다. 이 프로버 (Prober) 는 물리적 특성 및 매개변수 외에 반도체 장치의 전기 특성 (예: 커패시턴스) 을 측정 할 수 있습니다. 도쿄 전자 P 8 (TOKYO ELECTRON P 8) 의 설계 및 기술을 통해 웨이퍼 매개변수를 정확하게 측정하고 분석하여 개발 및 생산에 모두 유용한 툴이 될 수 있습니다. 완전한 모듈식 설계를 통해 P8 은 다양한 프로브 (Probe) 와 테스트 헤드 (Test Head) 를 사용할 수 있습니다. 여기에는 정전 용량, 저항, 유전율 상수, 전압 테스트 및 광학 강도 측정을위한 테스트 헤드가 포함됩니다. P 8 에는 고온 척의 옵션이 있어 고온의 측정에 사용될 수 있습니다 (예: 고온 척). 유연성과 신뢰성 외에도 TEL/TOKYO ELECTRON P8에는 고급 소프트웨어 및 액세서리 (옵션) 도 장착되어 있습니다. 이 소프트웨어는 측정 (measurement) 을 분석하여 정확성과 무결성을 파악하도록 설계되었습니다. 이 소프트웨어는 데이터 기반 지원, 자동 데이터 획득 및 분석, 보고서 생성, 대화형 프로그래밍 및 제어 기능을 제공합니다. TISC (Total Integrated Standard Control) 를 사용하면 여러 테스트 헤드를 관리하고, 측정 시퀀스를 자동화하고, 여러 작업을 처리할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 (TEL/TOKYO ELECTRON P 8) 에는 다양한 액세서리가 포함되어 있어 다양한 응용 프로그램을 지원합니다. 여기에는 원격 열 챔버 (thermal chamber) 와 웨이퍼 처리 암 (wafer handling arm) 이 포함되며, 둘 다 높은 온도에서 웨이퍼를 정확하게 측정하는 데 중요합니다. 이 시스템은 또한 표면 스캔 프로브 (surface scan probe) 및 광전자 기기 (optoelectronic instruments) 와 같은 여러 도구를 사용할 수 있습니다. 또한 마이크로파 프로브 (microwave probe), 비접촉식 도량형 기기, 강제 유량 미터 (force flow meter) 등 다양한 액세서리로 사용자 정의할 수 있습니다. P-8 Prober는 반도체 웨이퍼를 테스트하기위한 신뢰할 수 있고 다용도가 높은 솔루션입니다. 첨단 소프트웨어, 다양한 프로브 (Probe) 및 테스트 헤드 (Test Head) 를 통해 웨이퍼 매개변수를 측정하고 결과를 분석하는 강력한 솔루션을 제공합니다. 또한, 유연성과 다양한 액세서리 (옵션) 를 통해 다양한 어플리케이션에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다.