판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293761246

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 Dicing 및 Packaging 프로세스 후 개별 장치를 테스트하기 위해 반도체 산업에 사용되는 전문가입니다. 이것은 트랜지스터, 집적회로 (IC) 와 같은 매우 작은 장치의 전기 특성을 측정 할 수있는 매우 정확하고 고속 전문가입니다. TEL P8 Prober는 다양한 접촉 헤드 (Contact Head) 및 어댑터 보드 (Adapter Board) 를 사용하여 광범위한 테스트 조건이 있는 웨이퍼에서 접촉 테스트를 수행합니다. 웨이퍼 오조정 (wafer misalignment) 과 환경 변동 (environmental fluctuation) 의 영향을 줄이기 위해 설계된 4 점 프로빙 카드를 사용하여 정밀도를 보장합니다. 따라서 TOKYO ELECTRON P 8은 장치 동작의 높은 정확도를 측정하고 전압, 전류, 전력 등 다양한 매개변수를 분석합니다. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 Prober는 다양한 테스트 응용 프로그램 및 구성을 지원하도록 프로그래밍되어 있으며, 크기가 다른 반도체 칩과 복잡도 레벨을 측정 할 수 있습니다. 또한 높은 처리 속도 (Hi Throughput Speed) 를 통해 짧은 시간 내에 테스트를 완료할 수 있습니다. 또한, TOKYO ELECTRON P-8 Prober에는 설정 및 미디어 로딩을 자동화하는 통합 웨이퍼 처리 시스템이 장착되어 있습니다. 이 기능은 속도와 정확도를 더욱 높이고, 기능의 범위를 넓힙니다. P8 Prober는 신뢰성이 높으며 24 시간/7 일 기술 지원 시스템이 지원됩니다. 대부분의 업계에서 자동화된 소프트웨어 프로세스를 지원하며, 고객의 요구 사항에 맞게 손쉽게 구성, 맞춤형으로 구성할 수 있습니다. 결론적으로, TEL P-8 프로버는 dicing 및 packaging 프로세스 후 개별 반도체 장치의 전기 특성을 테스트하기 위해 고도로 신뢰할 수 있고, 고속, 정확한 도구입니다. 광범위한 테스트 애플리케이션/구성, 자동 설치/미디어 로딩 (Automated Setup/Media Loading) 지원, 24시간/7일 기술 지원 시스템 지원