판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293742043
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ID: 293742043
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 1996
Prober, 8"
Nickel plated chuck
Hot chuck temperature: 40°-150°C
Tester: GPIB
CPU Type: IP/DP
No ethernet
No OCR Camera
No inker
1996 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 효율적이고 정확한 프로브를 가능하게하는 반도체 장치를위한 완전히 자동화 된 전문가입니다. 이 검사는 IC 칩 테스트, IC 패키지 테스트, 셀 어레이 테스트 등 다양한 제품과 프로세스를 지원하도록 설계되었습니다. 카세트 기반 로드 및 언로드 시스템 (loading and unloading system) 과 매우 정확한 정렬 시스템 (alignment system) 을 모두 활용하는 완전 자동화 프로버 (prober) 가 특징입니다. 또한, 프로버는 고정밀 XYZ 스테이지로 제작되어 뛰어난 포지셔닝 및 추적 정확도를 제공합니다. 이렇게 하면 Probe 프로세스 중에 샘플이 완벽하게 정렬됩니다. 프로버 (Prober) 에는 패턴의 위치, 각도, 형상을 정확하게 캡처할 수있는 이중 기능 LED 기반 이미지 센서를 사용하는 광학 시스템이 장착되어 있습니다. 이것은 작은 기하학적 구조를 검사하고 조사하는 데 매우 효과적입니다. 프로버는 또한 IDDQ 테스트뿐만 아니라 DC 및 AC 프로브를 포함한 자동 전기 특성을 수행 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 정확도가 높은 동일한 프로세스를 여러 번 수행 할 수있는 반복 기능 (repeatability feature) 을 갖추고 있습니다. 이 Prober는 DSP (Digital Signal Processor) 로 구동되며 기존 시스템과의 통합을 용이하게 하기 위해 Windows 플랫폼을 기반으로합니다. DSP는 컨트롤러 (Controller) 및 프로버 (Prober) 고속 스테이지의 드라이버로 작동합니다. 고속 스테이지 외에도 프로버 (Prober) 에는 가속도계 (Accelerometer), 선형 위치 센서 (Linear Position Sensor) 및 뛰어난 정확성과 반복성을 보장하는 온도 센서 (Temperature Sensor) 와 같은 여러 센서가 포함되어 있습니다. Prober는 정적 및 동적 측정을 포함한 다양한 테스트 유형을 제공합니다. 특히 집적 회로 테스트 (integrated circuit testing) 에 효과적이며, 정적 정권과 동적 정권 모두에서 높은 정밀도를 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 신뢰할 수있는 오프라인 프로그래밍을 제공하여 변동 성 또는 부정확성 없이 동일한 프로세스를 여러 번 반복 할 수 있습니다. 또한 Prober에는 내장 잠금/태그 아웃 (Lockout/Tag-Out) 블록과 같은 다양한 안전 기능이 장착되어 있어 작동 중에도 사용자 안전을 보장합니다. TEL P8 은 다양한 생산 라인의 요구에 부응할 수 있는 견고하고 다목적 (versitile) prober 솔루션입니다. 프로버 (Prober) 는 고급 소프트웨어와 하드웨어를 장착하여 뛰어난 Probing 성능과 정확성을 제공합니다. 따라서 대용량 운영 라인과 IC 패키지 테스트에 매우 적합합니다.
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