판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293742041

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 반도체 장치의 전기 특성을 측정하는 데 사용되는 전문가입니다. 반도체 테스트 장비로, 웨이퍼 (wafer-level) 에서 반도체 장치를 정밀하게 측정할 수 있습니다. TEL P8 Prober는 웨이퍼 프로버 (Wafer Prober) 어플리케이션에 대한 확장 요구를 충족시키기 위해 고정밀도이지만 컴팩트한 설치 공간으로 설계되었으며, 향상된 웨이퍼 프로브 (Wafer Probing) 정확도, 수율 및 처리량을 제공합니다. 접촉 저항, 리드의 저항, 전력 소비 등과 같은 다양한 전기 매개변수를 측정 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 8 prober는 벡터리스 스캐닝 기법에서 작동하며, 여기서 접촉 변위와 저항이 동시에 측정됩니다. 이 시스템은 ASIC 테스트를 거쳐 인증을 받았으며 Probe 카드, 헤드, 척, 소프트웨어가 포함된 완전한 구성 요소로 공급됩니다. 프로브 카드 (Probe Card) 는 테스트 중인 웨이퍼와 접촉하는 프로브 바늘을 유지하도록 설계되었습니다. 프로브 (Probe) 바늘은 높은 반복성과 광범위한 저항으로 단일 점 (single point) 의 저항을 최대 큰 점의 배열까지 측정하도록 정확하게 조정할 수 있습니다. Probe 카드에는 확장 로딩 중 고정밀 (high-precision) 프로브를 가능하게 하는 냉각 메커니즘이 장착되어 있습니다. 헤드는 백 드라이브 액추에이터 제어 장치 (back-drive actuator control unit) 를 사용하여 프로브 삽입 및 접촉에서 높은 반복성을 가능하게합니다. "척 '은 진공기 를 사용 하여 조사 중 에" 웨이퍼' 에 안전 한 "그립 '을 공급 한다. 또한 웨이퍼 전송 중 파손으로부터 강력한 보호 수준을 제공합니다. TEL/TOKYO ELECTRON P8 Prober의 소프트웨어는 사용자에게 친숙한 테스트 환경을 제공하도록 설계되었습니다. 여기에는 성공적인 Wafer 테스트에 필수적인 데이터 획득, 분석, Wafer 이미지 등의 툴이 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어는 운영자가 테스트 매개변수를 필요에 맞게 사용자 정의할 수 있도록 도와주며 설치/프로세스 자동화 (setup/process automation) 기능도 제공합니다. P 8 Prober에 의해 생성된 데이터는 다른 형식으로 익스포트하여 가져올 수 있으므로, 효율적인 데이터 전송 및 분석이 가능합니다. 합쳐서, TOKYO ELECTRON P8 prober는 반도체 부품을위한 신뢰할 수 있고 정확한 테스트 도구를 제공합니다. 인적 개입을 최소화하면서 효율적인 테스트를 가능하게 하는 고급 (advanced) 기능을 갖추고 있습니다. 이 자산은 고정밀 (high-precision) 설치 공간과 사용자 친화적 인 소프트웨어 플랫폼을 결합하여 웨이퍼 레벨 (wafer-level) 테스트 및 분석에 이상적인 솔루션입니다.