판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293710518

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 다재다능하고 고정밀 프로버로, 매우 정확하고 정확한 수준에서 반도체 장치를 조사하고 테스트하도록 설계되었습니다. 광범위한 프로브 (Probing) 기술을 지원하며 다양한 테스트 (Testing) 애플리케이션을 지원할 수 있는 다양한 고급 (Advanced) 기능을 갖추고 있습니다. Prober는 XY 단계에서 작동하여 Probe를 수행하는 동안 정확하고 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. 프로버는 단일 웨이퍼 샘플을 포함하여 프로브, 멀티 슬라이스 프로브 (multi-slice probing) 및 기타 특수 프로세스를 포함한 여러 프로브 기술을 처리하도록 특별히 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 에는 온보드 정밀 광학도 포함되어 있으며 레이저 팁 및 샘플 위치를 정확하게 정렬 할 수 있습니다. 이 검사는 다양한 테스트 응용 프로그램에서 반도체 장치를 조사하기위한 다목적 플랫폼 역할을합니다. 극도로 얇고 작은 크기의 장치를 테스트하는 데 사용되며, 나노미터 (nanometer) 척도까지 장치를 조사하는 데 사용할 수 있습니다. 또한, 프로버는 샘플링, 번 인 (burn-in) 및 기타 반복 가능한 정밀 테스트 응용 프로그램에도 사용될 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 완전 자동화 교정 시스템을 갖추고 있으며, 이는 레이저 팁의 위치 지정 및 정렬이 각 샘플에 정확하게 유지되도록 도와줍니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 고급 온도 조절 기능을 갖추고 있으며, 테스트 중에 샘플 웨이퍼의 정확한 온도 조절이 가능합니다. 또한 Prober는 소프트웨어 (Software) 와 하드웨어 (Hardware) 지원 사용자 정의를 모두 제공하여 개별 요구 사항에 맞게 다양한 테스트 매개변수 구성을 조정할 수 있습니다. 결론적으로, TEL P8은 고급 프로버이며, 특히 매우 정확하고 정확한 수준에서 여러 프로빙 기술을 처리하도록 설계되었습니다. 다중검사 (Testing Application) 에 사용할 수 있고, 크고 작은 샘플을 모두 수용할 수 있는 신뢰성 있는 다용도 플랫폼입니다. 프로버 (Prober) 는 또한 다양한 맞춤형 기능을 제공하여 테스트 매개변수를 특정 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다.