판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293710515

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 일본 기술 회사 TEL Limited (TOKYO ELECTRON) 가 만든 프로버입니다. 반도체 및 기타 장치의 전기 및 광학 특성을 정확하게 측정 할 수있는 전동식 스테이지 타입 프로버 (Motorized Stage-type Prober) 입니다. TEL P8은 높은 정확도 x-y-z 변환 단계를 사용하여 프로브 헤드 (Probe Head) 에 대한 테스트 기판을 배치하고, 프로브 정확도를 높이기 위해 기질의 자동 평면 화를 제공합니다. 이를 통해 구성 요소의 여러 물리적 구성을 측정할 수 있습니다. 구성 요소는 고급 (advanced) 디바이스 개발에 자주 사용됩니다. 도쿄 전자 P 8 (TOKYO ELECTRON P 8) 에는 자동 프로빙 제어 장비가 있으며, 이는 시험 표면에 대한 프로브 헤드의 정확하고 반복 가능한 커플링을 보장합니다. P 8은 웨이퍼, 포장 및 베어 다이 반도체 및 2 차원 코드의 접촉 및 비 접촉 프로브를 위해 설계되었습니다. 다양한 요소를 측정하는 능력은 다양한 응용프로그램 (application) 에 유용합니다. 이 검사는 물리적 평가, 전기 특성 및 더 복잡한 재료 측정 및 분석에 이상적입니다. 트랜지스터 임계 전압, 증폭기 이득, 유전체 상수, 정전 등 다양한 매개변수를 측정하는 데 사용할 수 있습니다. 도쿄 전자 P8 프로버 (TOKYO ELECTRON P8 Prober) 는 또한 높은 정확도 웨이퍼 인덱싱 시스템을 가지고 있으며, 이를 통해 테스트 중인 장치를 정확하게 찾아서 측정 할 수 있습니다. 이것은 x-y-z 단계에 연결된 인코더에 의해 수행되며, 이를 통해 TEL/TOKYO ELECTRON P8은 정확한 이중 축 웨이퍼 측정을 수행 할 수 있습니다. 또한 직접 접촉 (direct contact) 또는 비접촉 (non-contact) 방법을 사용하여 전체 웨이퍼를 측정할 수도 있습니다. TEL P 8은 또한 높은 정확도 진공 챔버 (vacuum chamber) 를 가지고 있으며, 이는 프로 버 작업 중 기질의 정확한 측정을위한 안정적인 환경을 제공합니다. 또한, TOKYO ELECTRON P-8에는 다양한 프로브가 포함되어 있으며, 이는 수행 중인 측정 유형에 맞게 조정됩니다. 프로브 헤드는 커패시턴스 (capacitance) 및 드리프트 특성 (drift characteric) 과 같은 고해상도 측정을 제공하도록 구성 될 수 있습니다. 프로브는 또한 설정 가능한 힘을 특징으로하며, 이는 자세한 프로브 특성에 맞게 조정 할 수 있습니다. 마지막으로, P-8 은 데이터 수집, 데이터 저장, 데이터 분석 및 보고에 사용하기 쉬운 소프트웨어를 제공합니다. 소프트웨어를 사용하면 사용자 정의 스크립트를 만들어 Prober 및 데이터 수집 (Data Collection) 프로세스를 제어할 수 있습니다. 또한 사용자는 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 장치를 빠르고 쉽게 구성할 수 있습니다. 전반적으로 TEL/TOKYO ELECTRON P 8은 광범위한 측정을 위해 설계된 강력한 전문가입니다. 자동 머신 (automated machine) 과 높은 정확도 기능을 통해 다양한 어플리케이션에 신뢰할 수 있는 툴이 됩니다. 사용자가 정확하고 반복 가능한 측정을 빠르고 쉽게 수행할 수 있도록 도와줍니다.