판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293710509

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 반도체 산업에 사용되는 첨단 전문가입니다. 반도체 소자의 전기적 특성을 테스트하도록 설계된 전자동 (Fully Automated) Prober 장비다. TEL P8 시스템은 프로브 (Probing) 프로세스를 모니터링하는 메인 콘솔과 실제 프로브 (Probe) 이동 및 접촉 측정을 수행하는 프롤러 헤드 (Prober Head) 로 구성됩니다. 프로버 헤드 (Prober Head) 는 저항, 커패시턴스 (Capacitance), 전압 (Voltage) 과 같은 전기 특성을 정확하고 빠르게 측정하기 위해 다양한 센서와 고급 소프트웨어가 장착 된 고정밀 장치입니다. TOKYO ELECTRON P 8 장치는 최소 픽셀 해상도 10nm로 최대 1016 mm2 (1 미크론 x 1 미크론) 크기의 다양한 반도체 장치를 조사 할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P 8은 공압 구동 급락 메커니즘을 사용하여 샘플 장치와 프로브 팁에 연락합니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 다양한 패키지와 디바이스 유형에 대한 자동 Probe 주기를 위한 매개변수를 쉽게 설정하고 프로그래밍할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P8은 다양한 웨이퍼 환경에서 최적의 생산성을 위한 탁월한 정밀 값을 제공합니다. 연산자는 다양한 재료의 전송 및 흡수 샘플링을 정확하게 측정하기 위해 광감도 (optodensitometry) 모드를 선택할 수 있습니다. P 8 의 웨이퍼 ID 리더기는 이전 또는 이후 샘플의 데이터 또는 오염이 일치하지 않도록 합니다. 기계는 또한 측정 결과의 정확도에 대한 자동 온도 보정을 제공합니다. "토오쿄오 '전자P8 은 또한" 샘플' 장치 의 표면 을 깨끗 하게 유지 하고 입자 로부터 자유 케 하기 위하여 능동 공기 "제트 '를 잘 갖추고 있다. 이 도구는 클린 룸 (clean room) 에서 작동을 유지하기 위해 정적 및 먼지가 없는 환경 보호 설계로 제작되었습니다. P8 에셋은 여러 프로그램 언어, 자동 측정 뷰, 다중 커브 피팅 기능, 사용자 정의 가능한 경보 메시지, 현장 보정 등 다양한 유용한 기능을 제공합니다. 이러한 기능은 모두 사용하기 쉬운 컴팩트 폼 팩터 (compact form factor) 에 통합되어 있으며, 신호 분석은 MathCAD 기술로 더욱 사용자 정의할 수 있습니다. P-8 (P-8) 은 조사 요구에 대한 높은 정확성과 저렴한 비용을 찾는 테스터에게 훌륭한 선택입니다.