판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293661231

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 (TEL/TOKYO ELECTRON P-8) 은 테스트 사이클에서 높은 수준의 정확성과 신뢰성을 유지하면서 사이클 시간을 최소화하고 웨이퍼 프로브에 대한 정확한 데이터를 얻도록 설계된 전문가입니다. TEL P8 시스템은 고속 다중 노드 프로버 구성을 통해 비용을 절감합니다. EMC VTL (Virtual Tape Testing) 솔루션 은 원활하게 연동하는 시스템을 제공하여 Wafer 테스트 생산성을 극대화하고 다양한 테스트 플랫폼 간에 Wafer 를 신속하게 이동할 수 있게 해 줍니다. 도쿄 전자 P 8 (TOKYO ELECTRON P 8) 은 여러 대의 로봇 무기와 고해상도 산업 카메라로 멀티 사이트 조사를 할 수 있으며, 동시에 최대 8 개의 웨이퍼를 조사 할 수 있습니다. 이 최첨단 기술은 주기 시간 (cycle time) 을 줄이고 웨이퍼에 여러 사이트를 동시에 조사하여 테스트 데이터의 정확도를 높입니다. TEL P-8 을 사용하면 시스템 소프트웨어와 초기화가 완전히 자동화되어 신속한 설치/신속한 운영을 보장할 수 있습니다. 또한, 정확하고 반복 가능한 교정 전략과 기술이 시스템에 통합되어 여러 프로브 사이트 (Probe Site) 및 테스트 조건 중에서 가장 정확도가 높습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P8 (TEL/TOKYO ELECTRON P8) 은 최신 비전 기술을 사용하여 웨이퍼 프로브 프로세스를 모니터링하며, 프로브 주기 동안 문제를 감지하고 필요한 수정을 수행하여 정확한 결과를 유지할 수 있습니다. 고급 고속 프로세서에서 실행되어 프로브 (Probe) 포지셔닝의 정확성과 획득한 테스트 데이터의 정확성을 보장합니다 (영문). 소프트웨어 도구는 최적의 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 를 위해 전기 접촉의 위치, 모양 및 특성을 모니터링하는 데 사용됩니다. 도쿄 전자 P-8 (TOKYO ELECTRON P-8) 은 또한 고급 로봇 기술을 사용하여 프로브 팁을 사용하여 웨이퍼를 빠르고 정확하게 정렬하여 테스트 처리량을 높이고 프로브 및 웨이퍼 손상을 줄입니다. TEL P 8은 매우 효율적이며 수동 조정, 유지 보수 및 다운타임을 줄여줍니다. 최첨단 설계는 고품질의 결과, 테스트 주기 전반에 걸친 반복 가능성, 전반적인 신뢰성을 보장합니다. 여러 대의 로봇 및 카메라 구성 덕분에 P 8 은 멀티 사이트 Probing 및 여러 웨이퍼 동시 Probing 을 통해 테스트 정확도를 높이고 테스트 시간을 단축할 수 있습니다. 결과는 효율적이고, 실시간, 자동화된 Probe 플랫폼으로, 주기 시간을 최소화하면서 품질을 최대화할 수 있습니다.