판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293658823

TEL Prober TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 다른 구성 요소뿐만 아니라 반도체 측정을위한 안정적이고 정확한 방법을 제공하는 고정밀 샘플링 장비입니다. 이 고급 프로버는 실리콘 웨이퍼 기판, 마이크로 웨이브 IC 등을 포함한 모든 유형의 재료를 측정 할 수 있습니다. 자동화된 TSV (실리콘을 통한) 프로브를 통해 가능하며 장치 특성화를위한 저전력 비접촉 스캔 열 이미징 시스템을 제공합니다. TEL P8에는 샘플 안정성과 올바른 스캐닝 위치를 보장하기 위해 3 축 샘플 스테이지가 포함되어 있습니다. Prober 자체는 내구성 다이 하드로 구성되며, 강화된 강철 덮개로 보호 기능이 추가됩니다. 모든 이동 부품은 내구성과 정확성에 대해 테스트 및 인증을 받았습니다. 이 장치는 모든 유형의 MEMS 장치와 호환되며, 성능 매개변수 (performance parameter) 에 대한 비접촉 (non-contact) 분석을 위한 25µm 해상도 스캐닝 기능을 제공합니다. TOKYO ELECTRON P 8은 제조 공정 제어 및 공정 통합에 이상적입니다. 이 기계는 조정 가능한 하중 힘 피드백 (load force feedback) 도구를 갖추고 있으며, 각 샘플 접촉 지점의 정확한 접촉 하중을 감지합니다. 이 정보는 더 나은 장치 특성을 위한 정확한 판독값을 보장하는 데 도움이 됩니다. 이 자산에는 더 빠른 스캐닝 및 측정을위한 대형 평면 광학, 단일 포인트 측정 기능 (0.3 µm 해상도) 을 갖춘 높은 정확도 데이터 획득이 포함됩니다. 이 고급 Prober는 또한 고급 Cross-3D 기술을 제공하여 사용자가 meshing pit-ovens 및 bump interconnections와 같은 작업을 빠르고 정확하게 수행 할 수 있습니다. 이 모델의 3 대의 카메라는 완전한 장치 특성화에 대한 총 샘플 적용 범위를 보장하는 데 도움이됩니다. P8 은 또한 다양한 실험실 소프트웨어 솔루션과 통합되어 추가 분석/보고 기능을 제공합니다. TOKYO ELECTRON P8은 신뢰할 수 있고 정확한 Prober 기술이 필요한 모든 사람에게 탁월한 선택입니다. 기본 기술은 높은 정확도를 측정하며, 자세한 장치 특성을 제공합니다. 내구성 있는 설계와 최첨단 기술로, 이 장비는 수년 동안 안정성과 정밀도로 작동할 수 있습니다. 고급 교차 3D (Cross-3D) 기능을 통해 복잡한 작업을 손쉽고 정확하게 수행할 수 있으며, 통합 소프트웨어 솔루션을 통해 유연성과 분석 기능을 더욱 강화할 수 있습니다. 모든 반도체 생산 또는 프로세스 통합 요구에 대해 TEL P-8은 탁월한 선택입니다.