판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293657595

ID: 293657595
웨이퍼 크기: 8”
빈티지: 1997
Automatic wafer prober, 8” 1997 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 집적 회로 및 기타 전자 부품을 조사하고 테스트하는 데 사용되는 매우 정교한 전문가입니다. 이 프로버는 저항, 커패시턴스 (capacitance), 인덕턴스 (inductance) 및 기타 매개변수와 같은 다양한 전기 특성을 정확하게 측정하도록 설계되었습니다. 또한 다른 온도에서 집적 회로의 파라 메트릭 특성을 측정 할 수 있습니다. 이 프로버에는 습식 에치 (Wet Etch) 와 시험 용 웨이퍼에 박막 증착을 수행 할 수있는 특수 웨이퍼 처리 시스템이 있습니다. 프로버는 웨이퍼 및 플립 칩 컴포넌트에 대한 접촉 및 비 접촉 측정을 수행 할 수 있습니다. 또한 진공 척 시스템 (vacuum chuck system) 이 제공되며, 이를 통해 프로버는 구성 요소의 저항성을 정확하게 측정 할 수 있습니다. TEL P8 프로버의 고급 기술에는 고속 오실로스코프 (Oscilloscope) 와 멀티 플렉서 (Multiplexer) 가 포함되어 있어 다른 온도에서 전기 특성을 감지하고 측정 할 수 있습니다. 프로버는 또한 구성요소의 물리적 결함 및 기타 불규칙성을 감지 할 수 있습니다. 또한 고주파 특성을 측정하여 IC 테스트에 이상적일 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 8에는 직관적 인 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가 있어 설치와 작동이 용이합니다. 그래픽 프로그래밍 언어 (Graphical Programming Language) 를 사용하여 사용자는 Prober의 환경과 작업을 제어할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 를 컴퓨터 인터페이스에 연결하여 사용자가 프로버에서 수집한 데이터를 분석 할 수도 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P8에는 ESD 보호, 전압 안정화, 전류 증폭, 과도, 신호 추적 및 선형 테스트와 같은 다양한 프로브 기능이 있습니다. 임피던스 측정 및 고주파 프로브에도 사용할 수 있습니다. TEL P-8 (TEL P-8) 은 집적 회로 및 기타 구성 요소에서 다양한 파라 메트릭 테스트 및 프로브 작업을 높은 정확도로 수행 할 수있는 강력한 전문가입니다. 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface), 고급 기술 (Advanced Technology) 및 멀티플렉서 (Multiplexer) 를 갖추고 있어 집적 회로 산업의 엔지니어들을 위한 훌륭한 도구입니다. 더 나은 설계 및 제조 공정에 대한 향상된 테스트 정확성을 제공하는 신뢰할 수있는 전문가입니다 (영문).
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