판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293627763

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ID: 293627763
빈티지: 1999
Prober VIP Tester interface: GPIB and TTL Air: 0.4~0.7 MPA Vacuum: -50 Kpa or less Temperature range: 25°C Power consumption: .0.8 KVA Power supply: 115 VAC, 50/60 Hz, 8 A 1999 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 프로버는 웨이퍼 표면의 전기 특성을 측정하는 데 사용되는 도구입니다. 그것 은 "웨이퍼 '와 작은 구형" 프로브' 사이 의 접촉 내성 의 정확 한 측정 에 기초 한 것 이다. 프로버 (Prober) 는 높은 정확도와 재현성을 특징으로하며, 프로브 팁과 샘플 표면 사이의 접촉없이 측정 된 낮은 압력도 특징입니다. 프로버 (Prober) 는 X 방향과 Y 방향으로 이동할 수있는 모바일 베이스에 장착 된 프로브 보드 (Probe Board) 와 프로브의 힘과 접촉을 구동하는 수직 Z축 플랫폼 (Z축 플랫폼) 으로 구성됩니다. 내부 구조는 3 개의 부분 (상단 수직 단계, 중앙 단계 및 하단 수직 단계) 으로 구성됩니다. 위/아래 단계는 두 개의 열 어셈블리에 마운트되고 이동 가능한 XY (movable XY) 단계는 가운데에 배치됩니다. 이 프로버는 IEEE-488 인터페이스를 통해 연결된 데스크탑 PC로 전원을 공급하고 작동할 수 있습니다. 또한 Z축 수직 드라이브 모터 (Z축 vertical drive motor) 를 제어하는 데 사용되는 전자 모듈 (electronic module) 이 장착되어 있으며, 운영자가 웨이퍼 (wafer) 표면에 프로브의 힘과 접촉 압력을 설정할 수 있습니다. 소프트웨어 인터페이스는 측정 신호를 읽으며, 사용자가 측정 매개변수를 조정할 수 있도록 합니다. 이 검사는 300 파스칼의 정적 압력 하에서 환경에서 작동하도록 제작되었습니다. 특수 광학 정렬 시스템 (Optical Alignment System) 과 자동 초점 (Auto Focus) 기능이 장착되어 있어 사용자가 예리하게 변화하는 서피스를 정확하게 측정하고 Probe 접촉력을 쉽게 조정할 수 있습니다. 이 시스템은 응력, 표면 전위, 계열 및 평행 저항, 접촉 저항, 누출 전류 등 샘플 표면의 다양한 전기 특성을 측정하는 데 사용될 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 Z축 모터 제어를위한 유연한 프로그래밍 언어, 고유 한 표면 분석 소프트웨어, 광범위한 프로브 (Probe) 와 같은 고급 기능도 제공됩니다. 프로버 (Prober) 는 연산자가 여러 레시피를 설정하고 수동 작업보다 더 신뢰할 수있는 반복 가능한 측정을 가능하게합니다. TEL P8은 광범위한 기능과 유틸리티를 통해 효율적이고, 안정적이며, 정확합니다. 사용하기 쉽고, 정확하고, 신뢰할 수 있는 기능을 통해 표면의 다양한 전기 특성 (electrical properties) 에 대한 뛰어난 측정 기능을 제공합니다. 따라서, 웨이퍼 테스트 및 제조에 이상적인 도구입니다.
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