판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293620491

ID: 293620491
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 1995
Prober, 8" OS: Gzz00-R014.08QH CPU Type: VIP3A Hot gold chuck Vacuum: ≤-50 kPa Main air / Vac hose size: 6Ø Top loader Bernoulli and pad sub chuck Chuck air blower Solenoid block Control board OCR COGNEX insight 1700 Air pressure: 0.45 MPa - 0.7 MPa SCSIHSD: 70-80% Increased speed Memory: 8G / 16G SD Card SCSI Interface Power: 5V DC Power supply: 200-240 V, 50-60 Hz, Single phase, 7.5 Amps 1995 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 전자 시스템의 성능을 효과적으로 테스트하도록 설계된 고급형 전문가입니다. 이 제품은 매우 정밀한 레이저 (laser) 를 사용하여 집적 회로의 특성을 측정하여, 엔지니어가 다양한 조건에서 장치 수준의 성능을 평가할 수 있도록 합니다. 이러한 조건에는 극한의 온도, 열, 충격, 정적 및 동적 성능 테스트가 포함될 수 있습니다. TEL P8에는 기능 및 정확도를 극대화하기 위해 설계된 다양한 기능이 있습니다. 스캐닝 헤드 (scanning head) 는 자체 교정 초점 시스템을 특징으로하며, 각 테스트에 대한 이상적인 초점을 지능적으로 유지하여 정확성을 보장하고 잘못된 정렬로 인한 오류 발생 위험을 줄입니다. 레이저 다이오드 (Laser Diode) 는 정확한 프로브 (Probe) 역할을하며, AI 기능을 통해 회로 내에서 복잡한 패턴을 감지하고 외부 요인의 간섭없이 이러한 측정을 정확하게 캡처 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 8에는 자동 테스트와 직관적이고 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 지원하는 다양한 고급 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 통해 엔지니어는 특정 작동 온도의 테스트 결과, 회로 특성 등 실시간으로 다양한 테스트 결과를 검토, 분석할 수 있습니다. 사용자는 원격 터미널 (remote terminal) 에 액세스하여 데스크톱 또는 워크스테이션의 테스트를 확인하고 데이터를 안전한 클라우드 (secure cloud) 에 저장할 수도 있습니다. 또한 P-8 모듈식 설계를 통해 다른 테스트 시스템 (testing system) 및 기타 구성 요소와 쉽게 통합 할 수 있습니다. 예를 들어, 온도 (temper) 와 충격 (shock) 입력 (input) 을 획득하여 극한 조건에서 작동하는 집적 회로의 성능을 정확하게 측정하기 위해 테스트 셀과 직접 상호 작용할 수 있습니다. 전반적으로, P8 은 엔지니어가 다양한 조건에서 집적회로의 성능을 효과적으로 테스트할 수 있도록 설계된 고급 (advanced) 툴입니다. 정확한 레이저 프로브 (Laser Probe), AI 기능, 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 및 모듈식 설계를 통해 매우 정확하고 안정적인 테스트를 통해 전자 시스템의 성능을 평가할 수 있습니다.
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