판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293610616

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 반도체 칩 테스트에 사용되는 프로 버 장비입니다. 매크로 (macro) 와 마이크로 (micro) 스케일에서 테스트 측정을 수행할 수 있으므로 다양한 애플리케이션에 적합하고 다양합니다. TEL P8은 여러 측정 기능을 갖춘 완전 자동화 교정 시스템입니다. 광범위한 툴을 통해 전기 테스트 (Electrical Testing) 및 특성, 물리적 측정 (Physical Measurements), 디바이스 조사 (Device Probing) 등 다양한 애플리케이션에서 사용할 수 있습니다. 이 장치에는 프로브 카드 (Probe Card) 와 테스트 보드 (Test Board) 를 모두 이동하고 최적화할 수있는 조작기가 장착되어 있습니다. 테스트 프로브 측면에서 TOKYO ELECTRON P 8에는 다양한 옵션이 있습니다. 여기에는 공기 탐사선 카드 및 전류 및 정전 용량 측정을위한 바늘 팁, 샘플링 및 채널링을위한 가변 프로브 (variable probe) 가 포함됩니다. 또한 MEMS, 나노 스케일 장치 및 초박형 장치를 테스트하도록 설계된 통합 MEMS (Micro Electro-Mechanical Systems) 테스트 모듈이 장착되어 있습니다. TEL P 8에는 금속, 반도체, 폴리머 등 다양한 디지털 반도체 재료와 호환되는 신호 연결을위한 프로브 베이스가 포함되어 있습니다. 이 기계는 또한 고급 데이터 분석 기능을 제공하는 완전한 기능을 갖춘 Probing Analysis Software와 함께 Probing 프로세스에 자동화를 추가하는 Automated Probing 소프트웨어를 제공합니다. P8 은 신뢰성이 높고 비용 효율성이 뛰어나, 신뢰성과 비용 효율적인 테스트 솔루션을 필요로 하는 많은 기업에게 이상적인 선택입니다. 이 툴은 고가의 특수 계측기 (specialized instrumentation) 없이 지속적으로 증가하는 반도체 장치 테스트의 요구를 충족시킬 수 있습니다. TEL P-8 (TEL P-8) 은 정확도, 속도, 신뢰성 및 다양한 테스트 프로브를 사용하여 작업하는 능력을 포함하여 많은 장점을 가진 효율적인 프로버 자산입니다. 광범위한 디지털 반도체 소재와의 호환성을 통해 안정적이고 정확한 테스트 솔루션을 필요로 하는 기업을 위한 다재다능하고 비용 효율적인 선택이 가능해집니다 (영문).