판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293597085

TEL/TOKYO ELECTRON P-8은 광범위한 웨이퍼 프로브 어플리케이션을 지원하도록 설계된 고급형 다기능 프로버 장비입니다. 이 시스템은 5 축 정밀 포지셔닝 장치로 설계되었으며 600mm ~ 1000mm 이동 범위가 다양한 테스트 및 프로브 어플리케이션에 적합합니다. 유연성을 통해 2 ~ 8 인치 장치를 탐사할 수 있습니다. 프로버 머신에는 2 개의 독립적 인 테스트 헤드 모듈 (전면 및 후면) 이 장착되어 있으며, 이는 5 축 이동 단계에서 부드럽게 이동할 수 있습니다. 고급 외부 (Advanced Exterior) 설계를 통해 프로버 (Prober) 플랫폼을 연속적이고 동적으로 조정할 수 있으므로 각 모듈의 테스트 프로브가 장치 표면을 정확하게 스캔할 수 있습니다. 2 개의 독립적 인 테스트 헤드 모듈은 매우 효율적이고 고정밀도 높은 정확성과 Probe의 반복 성을 허용합니다. TEL P8 에는 고급 자동 정렬 (auto alignment) 툴이 장착되어 있어 자동으로 wafer-to-test 헤드 정렬 및 다른 웨이퍼 간의 자동 정렬이 가능합니다. 에셋은 또한 테스트 챔버 (test chamber) 에서 웨이퍼 (wafer) 의 표면 세부 사항을 얻을 수있는 분할 회절 정렬 모델을 가지고 있습니다. 이를 통해 광도가 낮고, 조명각이 크게 변하는 상황에서도 정확하고 반복 가능한 프로브 (probe) 가 가능합니다. 프로버 (Prober) 장비에는 Probe 및 Testing을 완벽하게 시각적으로 제어 할 수있는 고급 소프트웨어 패키지도 있습니다. 이를 통해 사용자는 완전한 Probing 프로그램을 설계하고, 매개변수를 조정하고, 특정 프로세스와 직접 관련된 데이터를 탐색할 수 있습니다. 또한 고급 내부 관리 시스템 (Advanced Internal Management System) 은 여러 단계의 검사 (Probing) 또는 테스트 (Testing) 매개변수를 저장할 수 있으므로 향후 테스트 환경을 신속하게 리콜할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 8에는 컴퓨터 제어 인터페이스, 이더넷 및 PC 인터페이스, 프로그래머블 논리 컨트롤러 등 다양한 인터페이스가 장착되어 있습니다. 이 모든 기능을 통해 반도체 소자의 개발과 제조에 사용할 수 있습니다 (영문). 또한, 자체 진단 및 모니터링 기계는 프로세스 정확성과 안전을 보장합니다.