판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9276346
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판매
ID: 9276346
웨이퍼 크기: 12"
Wafer prober, 12"
4156C Tester through switching Matrix B2200A
Test head
Loader type: Single FOUP open
X, Y Probing accuracy: ±1.8μm
Optical system: ASU / BCU-Ⅰ
Probe card size: Up to 350 mm
Wafer cassette: FOUP
Constant temperature chuck: 25°C to 150°C (Air cool, +/- 3°C)
ATE Low leakage probe card interface
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
No hinge.
TEL 또는 TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn은 고급 반도체 장치의 제작을 처리하도록 특별히 설계된 정밀 전문가입니다. 이 Prober는 고해상도 웨이퍼 Probing 환경에서 정확한 결과와 뛰어난 성능을 제공합니다. 이 프로버에는 12 인치 수평 스테이지, 고해상도 프로브 헤드 및 고속 용량이 있습니다. 정밀 프로버 (precision prober) 는 초정밀 이동을 사용하여 장치의 모든 핀을 정확하게 배치하고 Probe를 사용할 수 있습니다. 고급 3축 동작 시스템을 사용하면 정확한 프로브를 수행하고 정렬에 접촉할 수 있습니다. 변경 가능한 고해상도 Probe 헤드를 사용하면 고해상도 대용량 장치를 테스트할 수 있습니다. 또한, 조정 가능한 보유 압력 조정 (1 ~ 10 킬로그램), 장치 표면에 대한 프로브 팁 압력의 단단한 제어, 반복 가능한 결과를 제공하는 힘 감지 시스템 (force sensing system) 을 자랑합니다. TOKYO ELECTRON Prober는 또한 웨이퍼 프로브를위한 고속 용량을 가지고 있으며, 초당 최대 50 개의 평가 속도를 제공합니다. 우수한 진동 격리 성능은 프로브 헤드 (Probe Head) 안정성을 보장하여 온도 및 환경 변화에 따라 정확한 접촉 평가를 가능하게합니다. 이 프로버는 또한 컴팩트 한 디자인, 8 ~ 12 인치의 대형 웨이퍼 크기 용량, 최소 이동 스케일 2 초를 특징으로합니다. 의자는 독립 전기 모터 (electrical motor) 에 의해 구동되는 여러 축으로 나뉘며, 고성능 프로버 (prober) 에 필요한 전체 동작 범위에 도달 할 수 있습니다. TEL P 12 XLN 은 매우 정밀하고 성능이 뛰어나며, 광범위한 운영 환경에서 모든 하이엔드 반도체 디바이스를 조사하는 데 적합합니다. 첨단 기술 요구 사항을 충족하는 최고의 웨이퍼 프로브 (Wafer Probing) 솔루션 중 하나입니다.
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