판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9274820

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + Prober는 강력하고 신뢰할 수있는 반도체 테스트, 검사 및 분석 장비로, 반도체 장치의 웨이퍼를 특성화하기 위해 특별히 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 는 반도체 소자를 테스트할 때 정확도와 정밀도를 높이도록 설계된 다양한 기능을 갖추고 있습니다. Wafer 처리 및 위치를 지정하기 위한 3축 카티시안 (Cartesian) 좌표계가 장착되어 있어 장치의 개별 웨이퍼를 격리하고 특성화할 수 있습니다. 최적, 반복 가능한 테스트 위치를 보장하기 위해 매우 정확한 선형 모터 구동 헤드가 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 진공 척 (vacuum chuck) 테이블이 장착되어 테스트 중 웨이퍼에 안전하고 안정적인 결합을 제공합니다. TEL P12XLN + 에는 각 개별 장치의 정확한 특성을 분석하는 데 사용할 수있는 고해상도 프로버 (prober) 카메라가 제공됩니다. 이렇게 하면 더 큰 샘플 영역을 정확하게 특성화하여 전체 테스트 처리량을 늘릴 수 있습니다. 프로 베르 카메라 외에도 TOKYO ELECTRON P 12 XLN + 에는 8 인치 하이드 록시 실시간 오버 헤드 모니터가 제공되며, 이는 이해하기 쉬운 방식으로 모든 분석 및 테스트의 실시간 결과를 표시하는 데 사용됩니다. P 12 XLN + Prober에는 반도체 테스트 프로세스를 간소화하도록 설계된 직관적인 사용자 인터페이스도 제공됩니다. "터치 스크린 디스플레이 (Touch Screen Display) '를 사용하면 명령에 신속하게 응답할 수 있고 현재 측정값과 테스트 결과를 그래픽으로 오버레이할 수 있습니다. 또한 P12XLN + 에는 다중 레벨 스캔 분석 (multi-level scan analysis) 과 같은 고급 측정 기술이 포함되어 있어 정확하고 반복 가능한 테스트 결과를 보장합니다. 마지막으로, 이 검사는 자동화된 테스트를 위해 향상된 로봇암 (robot arm) 시스템으로 설계되었으며, 사용자는 중단 없이 빠르고 정확하게 테스트를 반복 할 수 있습니다. 이 자동화된 측면 (aspect) 은 향상된 반복성, 생산성 향상, 개발 프로세스 단축을 지원합니다. 이는 반도체 테스트와 관련된 비용을 줄이는 데 도움이 됩니다. 결론적으로, TEL/TOKYO ELECTRON P12XLN + prober는 반도체 웨이퍼를 특성화하기 위해 특별히 설계된 매우 안정적이고 정확한 장비입니다. 로봇 자동화 (robotic automation), 카메라 기반 분석 (camera-based analysis) 과 같은 고급 기능은 반도체 테스트 프로세스를 가속화하고 정확한 결과를 보장하는 데 도움이됩니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (User Interface) 와 고급 측정 (Advanced Measurement) 기술도 빠르고 정확한 장치 테스트를 위해 고안되었습니다.