판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9260382

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn은 IC 고장 분석에 사용하도록 설계된 최고급 고정밀 프로버입니다. 최대 스캐닝 면적이 150mm2 인 이 프로버 (Prober) 는 모든 크기의 샘플을 처리하고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. TEL P 12 XLN은 대형 웨이퍼 스캐닝 영역, 완전 전동 3 축 샘플 스테이지, 폐쇄 루프 Z축 동작 제어 장비 등 다양한 성능 향상 기능을 갖추고 있습니다. 이 prober에는 자동 웨이퍼 컨디셔너 (wafer conditioner) 가 있으며, 이는 입자와 잔기를 제거하여보다 안정적이고 정확한 결과를 산출합니다. TOKYO ELECTRON P-12 XLN은 기존 자동 테스트 시스템에 쉽게 통합할 수 있도록 설계되었으며, 다양한 테스트 작업과 호환됩니다. 이 시스템의 고효율 제어 시스템은 ControlNet 프로토콜을 기반으로 하며 이더넷 (Ethernet) 또는 LAN 연결을 통해 Prober 유닛을 원격 모니터링 및 진단할 수 있습니다. 또한 ControlNet 프로토콜은 매핑 기능을 제공하여 프러버 (prober) 이동 및 작업을 세밀하게 제어할 수 있습니다. TEL P-12XLn에는 전체 샘플 처리 기능과 광학 도량형 기능이 있습니다. 정확한 반복 가능한 결과를 얻기 위해 프로버 (Prober) 는 다양한 이미징 모드 및 초점 시스템을 활용하는 통합 광학 머신 (Optical Machine) 을 갖추고 있습니다. 광학, 샘플 처리 (sample-handling) 및 모니터링 기능의 조합은 설정 및 운영 시간을 최소화하고 수율을 최대화할 수 있도록 설계되었습니다. 정확성을 더욱 보장하기 위해 P 12 XLN의 고급 샘플 조작 기능에는 기울기 각도 세트 (tilt angle set) 기능이 포함되어 있으며, 각 테스트에 대한 최적의 방향을 찾을 수있는 샘플의 제어 조작이 가능합니다. 이 Prober에는 고급 클린 룸 (Clean Room) 이미징 기능도 포함되어 있으므로 표준 테스트 환경 이외의 샘플의 고해상도 이미징이 가능합니다. TOKYO ELECTRON P-12XLn prober는 IC 장애 분석에 이상적인 솔루션으로, 정확하고 반복 가능한 결과뿐만 아니라 기존 자동화 시스템과의 손쉬운 통합을 제공합니다. 강력하고 효율적인 프로버를 원하는 사용자에게 TEL P-12 XLN은 탁월한 선택입니다.