판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9254858

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn은 전기 전류, 열 저항 및 전압과 같은 반도체 장치의 여러 매개 변수를 측정하기위한 증명자입니다. 이 측정은 높은 해상도와 정확도로 수행되도록 설계되었습니다. TEL P 12 XLN에는 12 인치 베이스가 장착되어 있으며, 여기서 모든 측정 헤드, 헤드 드라이브, 전원 공급 장치 및 기타 부품이 장착됩니다. Probe 카드는 기본 어셈블리에 장착되며 DUT (Test Under Test) 에서 장치에 연결하는 데 사용됩니다. 프로브 헤드는 정밀 PZT (piezoelectric actuator) 장비로 구동되며, 이를 통해 테스트 중인 장치에 대한 프로브를 정확하고 빠르게 포지셔닝 할 수 있습니다. 전면 패널 컨트롤은 프로브의 접촉력 (Contact Force) 을 조정하는 데 사용되므로 정확한 테스트가 가능합니다. 또한 사용자가 특정 장치 및 테스트 요구 사항에 맞게 헤드의 모션 프로파일 (motion profile of the head) 을 조정할 수 있습니다. 이 시스템은 스테인레스 (Stainless) 케이스로 둘러싸여 있으며, 여기에는 프로브에 전기 에너지를 공급하는 RF 및 전원 공급 장치가 있습니다. 이 에너지는 DUT를 활성화하고 DUT에서 프로브 (Probe) 출력에 대한 전기 응답을 모니터링하는 데 사용됩니다. 이 사례는 환경을 최적 온도 (optimum temperature) 로 유지하고 기계 (machine) 를 먼지 및 기타 입자로부터 보호하기 위해 에어컨을 사용합니다. TOKYO ELECTRON P-12 XLN에는 온도, 전력, 전압 등 장치의 다양한 특성을 측정 할 수있는 고속 아날로그 센서가 있습니다. 또한 디지털 MFI/O (Multi-Functional I/O) 채널이 있으며, 이는 높은 정확도의 장치와 상호 작용하는 데 사용됩니다. 이 도구에는 고급 LBA (Laser Beam Alignment) 에셋이 장착되어 있으며, 이를 통해 프로브는 정확한 측정을 위해 DUT의 정확한 위치에 배치됩니다. 또한, TOKYO ELECTRON P-12XLn에는 여러 디지털 입/출력 채널과 이더넷 통신 포트가 장착되어 있으며, 이를 통해 전기 시뮬레이션 소프트웨어, 데이터 획득 시스템 등 다른 테스트 장비에 연결할 수 있습니다. 또한, 역전류 차단, 과전압 보호 모델 등 여러 가지 안전 기능이 있습니다. 결론적으로, P-12 XLN은 반도체 장치의 여러 특성을 측정하기위한 고급 증명서입니다. 효율적이고 정확한 PZT 장비, RF 및 전원 공급 장치 시스템, 고급 Laser Beam Alignment 및 안전 기능이 있습니다. 또한 강력한 디지털 입력/출력 채널과 이더넷 통신 포트가 있습니다. 장치, 칩 특성, 장치 수준 웨이퍼 테스트, 기타 정밀 측정과 같은 고급 도량형 응용 프로그램에 이상적입니다.