판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9236130

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn Prober는 다양한 반도체 부품의 성능을 조사하도록 설계된 자동 전문가입니다. 이 검사는 듀얼 게이트 FET 및 아날로그 구성 요소와 같은 고성능 설계를 테스트하는 데 적합합니다. 최소 0.1 m 간격 정확도와 mm 당 256 픽셀의 고해상도로 최대 600 핀 부품을 조사 할 수 있습니다. 또한 Prober는 1.0 mil 추적/공간 너비로 접촉 패드 형상을 수용하고 측정 할 수 있습니다. TEL P 12 XLN은 정렬 용 고속, 스테퍼 모터 구동 멀티 축 (multi-axis) 모션 플랫폼으로 구동되며, 샘플 및 분석된 신호의 접촉을위한 여러 인터페이스 메커니즘이 있습니다. 이 프로버는 수동 및 컴퓨터 화 된 인터페이스를 모두 갖추고 있으며, 강력한 신호 분석 및 테스트 개발을 지원합니다. 이 장비는 이중 게이트 FET 테스터, 접촉 검사기, 신호 생성기 등 다양한 프로브 및 신호 컨디셔닝 하드웨어를 제공합니다. TOKYO ELECTRON P-12 XLN에는 정교한 전자 장치가 장착되어 있으며, 고속 스캐닝 기능, 측정 파형 자동 처리, 자동 프로브 보상, 여러 테스트 조건 간의 자동 전환 등 다양한 작동 모드 및 기능을 사용할 수 있습니다. P-12 XLN은 DC, AC 및 파형 생성 파형과 같은 광범위한 신호를 분석하고 측정 할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 추가 분석을 위해 파형을 기록하기위한 다양한 통계 도구를 제공합니다. 또한 TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN에는 여러 이미지, 색상, 사운드 처리 기능이 장착되어 있어 파형의 특성을 쉽게 해석 할 수 있습니다. 이 장치에는 빔 (beam) 및 링 (ring) 이미징 시스템이 포함되어 있어 프로브 추적 및 프로버 전극의 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. 이를 통해 Prober가 테스트 중인 장치에 정확하게 연결할 수 있습니다. 또한 P 12 XLN에는 온도 조절 머신 (temperature control machine) 이 포함되어 있어 접촉 패드와 샘플의 온도를 정확하게 모니터링 할 수 있습니다. P-12XLn은 또한 더스트 스크리버 (dust scriber), 더스트 블라스터 (dust blaster), 먼지 빨판 (dust sucker) 과 같은 도구의 안정성과 성능을 향상시키는 다양한 mech-tools 및 장치 처리를위한 프레서 및 픽업 에셋을 제공합니다. 모션 플랫폼 (Motion Platform) 과 함께 이러한 모든 도구는 프로버의 제어/정밀 성능을 활성화합니다. 이 검사는 오실로스코프, 디지털 멀티미터, 논리 분석기 등 다양한 테스트 장치와 호환됩니다. 결론적으로 TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN Prober는 고성능 반도체 부품을 테스트하기위한 고급 도구입니다. 이 Prober는 고속 스캔 기능, 파형 자동 처리, 자동 프로브 보상 (Automatic Probe Compensation), 여러 테스트 조건 간의 자동 전환 (Automated Switching) 등 다양한 기능과 도구를 갖추고 있습니다. 또한, 프로버 (Prober) 에는 파형 특성을 효과적으로 해석 할 수있는 다양한 이미지, 색상, 사운드 처리 기능이 장착되어 있습니다. 이 모든 기능은 mech-tools 및 temperature control model 외에도 TEL P-12XLn을 다양한 prober testing application에 이상적인 도구로 만듭니다.