판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9230418

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + 은 전기 및 광학 테스트를 위해 반도체 산업에 사용되는 전문가입니다. 이 Prober는 Probe를 위한 FAS (Fully Automated Solution) 로 설계되어 보다 효율적인 처리량과 높은 수율을 제공합니다. ATES (Automated Electrical Test System) 가 장착되어 있으며 반도체 웨이퍼를 정확하게 시각적으로 검사하기 위해 OFA (Optical Focus Analysis) 와 VA (Vision & Alignment) 의 조합을 사용합니다. TEL P12XLN + 의 ATES 시스템은 반도체 웨이퍼의 전기 특성 (electrical properties) 을 자동으로 조사하여 액세스하며, 사용자가 제공된 매개변수에 따라 정확한 설정을 만들 수 있도록 합니다. 이 설정은 제조업체의 사양과 시장의 생산 요구사항에 따라 "웨이퍼 '(wafer) 를 테스트합니다. TOKYO ELECTRON P 12 XLN + 에서 제공하는 FAS는 반도체 산업에 사용되는 다른 전문가들이 요구하는 설정 시간과 훈련 시간을 줄입니다. P-12XLn + 에 의해 사용되는 OFA 및 VA는 반도체 웨이퍼를 더 정확하게 시각적으로 검사 할 수 있습니다. OFA (OFA) 시스템은 웨이퍼의 결함을 빠르고 정확하게 식별할 수 있으며, 사용자가 웨이퍼의 결함과 일반 기능을 구별하도록 도와줍니다. 이 기능을 통해 사용자는 성공적인 (successful) 제품을 확보하기 위해 해결해야 할 잠재적인 문제를 파악할 수 있습니다. VA 는 고해상도 광학 현미경을 사용하여 결함의 위치와 크기를 측정합니다. 이렇게 하면 Wafer 의 운영 프로세스에서 문제가 되기 전에 잠재적 결함을 파악할 수 있습니다 (영문). P 12 XLN + 는 뛰어난 사용자 환경을 제공합니다. "버튼 '을 누르면" 웨이퍼' 기능 을 빠르고 쉽게 액세스 할 수 있다. 사용자 친화적 인 인터페이스는 이해하기 쉽고, 사용자 정의하기 쉬운 다양한 설정과 매개변수를 제공합니다. TEL P-12XLn + 에서 제공하는 포괄적인 정보를 통해 원하는 프로덕션 매개변수에 따라 웨이퍼를 테스트할 수 있습니다. TEL P 12 XLN + 은 반도체 업계에서 가장 발전된 전문가 중 하나이며, 신뢰할 수 있고 정확한 결과를 제공 할 수 있습니다. FAS 및 ATES 시스템은 신속한 제품 테스트와 정확한 웨이퍼 평가를 위한 이상적인 선택입니다. 강력하고 사용하기 쉬운 사용자 인터페이스 (user interface) 와 탁월한 시각적 검사 기능을 통해 새로운 프로젝트를 효율적으로 테스트할 수 있습니다.