판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9230417

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + 은 소형 다이빙 영역, 미세 피치 프로빙 및 초고속 배선/패드 프로브 어플리케이션을 위해 특별히 설계된 고급 반도체 테스트 프로버입니다. 증거 판독 (proof readings), 고해상도 와이어 패드 측정 (high resolution wire pad measurements), 전기 매개변수 판독 (electrical parameter readings) 등 다이 매개변수를 정확하고 빠르게 측정하는 도구를 제공합니다. 이 프로버는 웨이퍼 레벨 프로브 (wafer-level probing) 와 같은 다양한 반도체 장치 관련 측정과 작은 IC 특성에 적합합니다. TEL P12XLN + 는 1200mm x 700mm의 대형 듀티 스틸 프레임을 특징으로하며 최대 프로빙 높이 500mm를 자랑합니다. 이 프로버는 대형 샤프트 X-Y-Z 메커니즘으로 설계되었으며 최대 300mm 직경의 웨이퍼 크기를 처리 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 12 XLN + 에는 최대 프로빙 속도가 600mm/s인 고속 스캐닝 경로 2 개가 장착되어 있어 빠르고 정확한 수직 프로브가 가능합니다. 또한 X-Y-Z 동작은 웨이퍼의 다른 부분을 견고하고 올바르게 조사하도록 최적화되었습니다. P-12XLn + 에는 프로브 후 웨이퍼에서 자동으로 다이 (die) 를 그룹화 할 수있는 내장 다이 정렬 기능이 있습니다. 이 기능은 웨이퍼 프로브 효율을 최적화하고 수동 다이 (die) 처리를 줄이기 위해 설계되었습니다. 또한, 이 Prober는 여러 Wafer 및 레시피를 저장할 수 있으므로 대용량 테스트에 이상적인 Prober입니다. P 12 XLN + 의 사용자 인터페이스는 매우 직관적이며 실험과 데이터 수집이 용이합니다. 이 Prober는 여러 소프트웨어 애플리케이션을 지원하며, 각 기능을 필요에 따라 사용자 정의할 수 있습니다. 이 Prober의 자동 시작 기능을 사용하면 원버튼 자동 프로브를 사용할 수 있습니다. 결론적으로, TOKYO ELECTRON P12XLN + 은 범용 웨이퍼 프로브 및 특수 목적 소형 장치 테스트를 위해 설계된 고급 프로버입니다. 대형 강철 프레임, 고속 스캐닝 경로 2 개, 다이 정렬기 (die-sorter) 기능으로 설계되어 최대 수준의 유연성과 정확성을 제공합니다. 또한 직관적인 사용자 인터페이스와 자동 시작 (auto-start) 기능을 통해 실험과 데이터를 손쉽게 수집할 수 있습니다.