판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9228674

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + 은 현대 반도체 기술을 위해 설계된 전문가입니다. 최신 기술과 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 장치 및 상호 연결 매개변수를 효율적으로 측정, 분석할 수 있습니다. 진폭 및 통계 분석, 다이 앤 인터커넥트 (die and interconnect) 특성, 프로세스 최적화 및 수율 개선 분야에서 널리 사용됩니다. TEL P12XLN + 에는 12 인치 기판 보유 척 (chuck) 이 장착되어 있으며 다양한 포지셔닝 및 측정 기능을 제공합니다. 이 제품은 표준 프로브 암 (Probe Arm) 과 함께 제공되며, 모든 방향으로 회전할 수 있으며 열 및 마이크로 조작기, 4 중 렌즈 현미경을 포함한 다양한 프로브 (Probe) 가 장착되어 있습니다. 또한 다양한 이미지 처리 및 분석 도구가 포함되어 있습니다. 팔 은 움직 일 수 있으며, 최고 속도 인 1 분 당 600arm 길이 의 회전 을 할 수 있으며, "프로브 '력 을 정확 하게 측정 하기 위한 압력 피드백' 을 갖추고 있다. 장치 및 상호 연결 측정을 용이하게하기 위해 TOKYO ELECTRON P 12 XLN + 에는 고성능 스캐닝 전자 현미경이 장착되어 있으며, 이를 통해 테스트중인 장치에 대한 매우 상세한 이미지를 캡처 할 수 있습니다. 현미경에는 20 인치 장거리 객관식 렌즈, 무채기 및 아포크로마틱 콘덴서, 스팟 사이즈 5nm가 장착되어 있습니다. 또한 나노 미터 범위의 장치 기능을 측정하기위한 가변 확대 단계가 제공됩니다. 이 시스템의 강력한 데이터 획득/분석 (Data Inquiration and Analysis) 기능을 통해 디바이스와 상호 연결에서 자세한 정보를 얻을 수 있습니다. 데이터 로깅 (data logging) 및 그래프 (graphing) 기능이 제공되어 샘플을 효과적으로 기록 추적 및 비교할 수 있습니다. 또한, P 12 XLN + 에는 자동 프로버뿐만 아니라 두 분석 테스트 시스템에 직접 인터페이스가 장착되어 있습니다. TOKYO ELECTRON P-12XLn + 은 광범위한 측정 및 분석 기능과 더불어 시스템 사용자 정의 (custom) 측정 및 분석 프로그램을 설계할 수 있는 기능도 제공합니다. 유연한 하드웨어/소프트웨어 구성 옵션을 통해, 사용자는 고객의 요구 사항에 맞는 맞춤형 Prober를 만들 수 있습니다. 전반적으로 TEL P-12XLn + 은 효율적인 장치 및 상호 연결 특성을 위해 설계된 고급 전문가입니다. 이 제품은 강력한 데이터 획득 및 분석 기능, 맞춤형 (customizable) 시스템 옵션을 제공하여 반도체 기업을 위한 유용한 툴입니다.