판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9227364

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn 프로버는 엔지니어가 MOSFET, IC, RF 장치 및 멀티 칩 패키지를 포함한 다양한 장치에서 전기 측정을 얻을 수 있도록 반 자동 테스트 시스템입니다. 광학 투영 현미경으로 TEL P 12 XLN은 게이트 전류, 인덕턴스, 커패시턴스 등을 포함한 장치 매개 변수를 속도, 정확도 및 정밀도로 측정 할 수 있습니다. 다양한 유형의 프로버 (Prober) 는 장치의 접촉 패드를 조사하여 전기 특성에 대한 피드백을 받을 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P-12 XLN (TOKYO ELECTRON P-12 XLN) 은 엔지니어가 상세한 측정을 더 빨리 취하는 동시에 제품의 손상을 방지하는 기능을 통해 설계되었습니다. 매번 정확한 Probe를 보장하는 샘플 포지셔닝 시스템 (Sample Positioning System) 을 갖추고 있으며, 강력한 MicroVision 현미경을 통해 사용자가 포지셔닝 시 미세한 구성 요소를 정확하게 정렬할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN의 최적의 노즐은 열 손상을 줄이기 위해 설계되었으며, 강력한 스캔 증폭기를 통해 엔지니어는 매우 정확한 저항, 정전 용량 및 인덕턴스 값을 얻을 수 있습니다. 이것은 오류를 도입하지 않고 수행되며, 테스트에 필요한 전력의 양을 최소화합니다. 또한 다양한 조건에서 장치 (device) 를 테스트하여 가장 정확한 결과를 얻을 수 있도록 광범위한 작동 온도를 갖습니다. P 12 XLN에는 자동 프로그래밍 (auto-programming) 에서 샘플 검색, 찾기 및 측정 (sample search, locating, measuring) 에 이르기까지 테스트 프로세스를 빠르고 효율적으로 만드는 다양한 자동화 도구가 장착되어 있습니다. 자동 오류 검사 (automated error checking) 도 포함되어 있어 테스트 전에 디바이스가 제대로 설정되었는지 확인합니다. 또한 7축 (7축) 의 로봇암 (robot arm) 이 장착되어 있어 수동으로 액세스하기가 어려운 장치 내부의 영역에 도달 할 수 있으며, 보다 자세한 테스트가 가능합니다. TOKYO ELECTRON P 12 XLN 프로버는 인체 공학적 운영자 스테이션, 이미지 캡처 및 분석 장치 (image capture and analysis unit) 및 시스템을 생산 라인에 통합하기 위해 만들어진 캐비닛으로 구성되어 있어 산업 시장에 적합합니다. '신뢰할 수 있는 성능' 과 '돈의 가치' 로 인해 '신뢰할 수 있는 전문가' 를 찾는 엔지니어들이 선택할 수 있는 최고의 제품 중 하나입니다.