판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #293733140

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn은 반도체 산업을위한 고급 전문가 기술을 제공하는 전문가입니다. 이 장치는 반도체 테스트 및 Probe 어플리케이션의 고성능 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 다중 프로브 헤드 시스템 (Multi-Probe Head System) 및 고급 프로세스 제어 기능이 장착되어 있어 고밀도, 고속, 초저전력 IC 테스트가 가능합니다. 로드 용량이 11600g이고 총 이동 범위가 129mm 인 TEL P 12 XLN은 고급 테스트 및 고밀도 IC 프로브에 이상적인 솔루션을 제공합니다. TOKYO ELECTRON P-12 XLN은 독특한 고속 파라 메트릭 프로버 컨트롤러를 특징으로하여 장치가 0.001 초 이내에 IC 장치를 조사 할 수 있습니다. 광학 멀티플렉서 (Optical Multiplexer) 도 20MHz 속도의 초고속 장치 테스트를 지원하기 위해 포함되어 있습니다. 이 장치는 또한 고급 APC (Automated Process Control) 기능을 제공하여 테스트 엔지니어가 Probe 기준으로 Probe의 Probe 조건을 정확하게 제어하여 높은 수율을 달성 할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 효율성과 정확성을 극대화하기 위해 광범위한 하이엔드 (High-End) 재료 처리 기능도 갖추고 있습니다. 업계 최고의 전력 소비 및 특성 화 기능을 갖춘 TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN은 다양한 전압 수준에서 작동 할 수 있습니다. 또한 백사이드 이온 밀링 (backside ion milling) 을 지원하므로 테스트 엔지니어가 섬세한 장치 부품을 제거하지 않고도 사전 검사 프로세스를 수행할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 정확한 기울기 감지 및 특성화를위한 자동 고정밀도 위상 이동 보상 시스템을 지원합니다. TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN은 BGA, QFP, PLCC 및 TSOP을 포함한 다양한 패키지로 수행 할 수 있습니다. 종합적인 접속성 (connectivity) 옵션을 통해 다양한 테스트 프로브 (test probe) 및 기타 장치와 호환됩니다. 이 장치에는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 가 장착되어 있어, 사용자가 장치를 쉽게 구성하고 제어할 수 있습니다. 또한 Prober의 5 축 동작 기능을 통해 하드웨어 사용자 정의 정도가 가장 높습니다. 간단히 말해서, P 12 XLN은 강력하고 고급적인 프로버로, 반도체 테스트 및 프로브 시장의 엄격한 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 첨단 프로세스 제어, 고속 패라메트릭 (parametric) 기능, 재료 처리 능력, 전력 효율성 등을 활용함으로써, 이 장치는 고급 테스트 및 IC Probe에 필요한 전례없는 수준의 정확성과 성능을 제공할 수 있습니다.