판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9254695

ID: 9254695
빈티지: 2006
Wafer prober XY Probing accuracy: ±2.5 μm Z Probing accuracy: ±5.0 μm Optical system: ASU/BCU-II 2006 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLM은 반도체 제조를 전문으로하는 회사 인 TEL에서 설계 및 제조 한 전문가입니다. 현재 시중에서 가장 발전된 전문가 중 하나입니다. TEL P12XLM은 마이크로칩과 같은 반도체 장치의 성능, 신뢰성을 테스트하는 데 사용되도록 설계되었습니다. 전압, 전류, 저항, 정전기, 인덕턴스, 소음 등 다양한 검사 및 측정을 수행 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 12 XLM에는 고유 한 프로브 헤드 디자인이 있으며, 이는 높은 속도와 정확도를 제공합니다. 4 축, 초정밀 모션 시스템을 갖추고 있으며, 테스트 중인 장치에서 가장 작은 구성 요소조차도 정확하게 조사 할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 특수 진동 제어 메커니즘 (special vibration control mechanism) 을 포함하며, 이를 통해 테스트 과정을 방해 할 수있는 모든 진동을 줄일 수 있습니다. P12XLM 은 필요한 데이터를 정확하게 수집하기 위해 다양한 데이터 획득 모드를 제공합니다. A- 커브 (A-curve) 데이터 획득 모드에서는 여러 개의 프로브 점을 동시에 측정할 수 있고, B- 커브 (B-curve) 데이터 획득 모드에서는 장치의 주파수 응답을 정확하게 측정할 수 있습니다. TEL P 12 XLM에는 다양한 소프트웨어 패키지도 포함되어 있으며, 테스트 프로세스를 보다 쉽고 효율적으로 수행할 수 있도록 설계되었습니다. 이러한 패키지에는 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 가 포함되어 있으며, 이를 통해 Probe 포인트 설정의 조정과 새로운 Probe 포인트의 정의가 가능합니다. 또한 소프트웨어 패키지 (software package) 를 사용하여 테스트 결과를 자세히 분석하고 평가할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P-12 XLM은 고급 테스트 기능 외에도 내구성이 뛰어나 거친 온도와 높은 진동 상태를 견딜 수 있습니다. 또한 긴급 전원 스위치 (Emergency Power Switch) 가 장착되어 있어 긴급 상황의 경우 시스템을 신속하고 안전하게 종료할 수 있습니다. P-12XLm (P-12XLm) 은 반도체 업계에서 가장 정교한 테스트 요구 사항을 충족하도록 설계된, 매우 다양하고 신뢰할 수 있는 전문가입니다. 정확도, 속도, 내구성 및 사용 편의성을 결합한 TOKYO ELECTRON P12XLM은 현대 반도체 패브의 요구에 적합합니다.
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