판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9161697

TEL P-12XL은 정밀 웨이퍼 수준 분석을 위해 설계된 전문가입니다. 실리콘 웨이퍼 (silicon wafer) 나 반도체 소자 (semiconductor device) 의 전기적, 물리적 특성을 모두 측정할 수 있는 다중 매개변수 시스템이다. P-12XL은 최첨단 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 기능을 제공하여 생산 및 연구 및 개발 응용 프로그램 모두에 이상적입니다. 혁신적인 디자인은 고속 스캔 메커니즘, 특허를받은 웨이퍼 레벨 옵티컬 전원 공급 장치, 최적화 된 전원 커플 링, 고해상도 동작 제어 시스템 등을 갖추고 있습니다. P-12XL에는 다양한 입력 및 출력이 장착되어 있어 자동화된 웨이퍼 정렬, 다중 내부 (in-situ) 전기 분석 채널, 통합 컴퓨터 제어 등 다양한 기능을 제공합니다. 자동 웨이퍼 정렬은 정확하고 균일 한 웨이퍼 접촉을 보장하는 반면, 다중 현장 (in-situ) 전기 분석 채널은 단일 프로브를 사용하여 여러 측정이 가능합니다. 또한, 통합 컴퓨터 제어 (computer control) 기능을 통해 프로그래밍 가능한 거리에서 모든 데이터 분석 작업을 관리할 수 있습니다. P-12XL은 또한 종합적인 환경 통제가 가능하며, 고압 및/또는 고온 조건에서 작동을 지원합니다. 온보드 산소, 온도 및/또는 습도 센서가 장착되어 있어, 변화하는 환경 속에서 장치 특성을 자세히 분석 할 수 있습니다. 이를 통해 P-12XL 을 이용한 측정값은 테스트 환경에 관계없이 정확하고 안정적으로 유지됩니다. P-12XL은 단일 웨이퍼 값 측정뿐만 아니라 die 노력, I-V 곡선 측정, loop gain 또는 microwave 특성과 같은 정확한 프로세스 매개 변수를 제공하도록 구성 될 수 있습니다. 또한 P-12XL 의 모듈식 설계를 통해 광범위한 애플리케이션을 지원할 수 있습니다. 다른 기기를 모듈 시스템에 통합함으로써, 복잡한 웨이퍼 레벨 분석 프로세스에 사용될 수있다. 또한, P-12XL은 데이터 분석 및 시각화와 관련하여 고도로 발전되었습니다. 외부 데이터 수집 (external data acquisition) 시스템의 연결을 지원하므로 웨이퍼 테스트 결과를 실시간으로 캡처할 수 있습니다. 또한, 특화된 데이터 시각화 (Data Visualization) 소프트웨어를 사용하면 여러 측정의 데이터를 빠르고 정확하게 분석하고 디바이스 성능을 평가할 수 있습니다. 공학자들은 P-12XL (P-12XL) 이 제공하는 모든 기능을 활용하여 웨이퍼 수준의 측정으로 최고 수준의 정확성과 신뢰성을 얻을 수 있습니다.