판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9160409

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm
ID: 9160409
Automatic wafer prober.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLM은 Prober 또는 테스트 중인 장치의 전기 특성을 측정하는 데 사용되는 장치입니다 (DUT). TEL P12XLM에는 DUT의 다양한 구성 요소를 테스트하기위한 정밀 척 (precision chuck) 장비 및 다중 모드 측정 시스템이 있습니다. 세계 최고의 반도체 및 FPD 제조업체 인 TEL Ltd.와 전문 프로브 카드 제조업체 인 MYTEC CORPORATION 간의 협력으로 개발되었습니다. TOKYO ELECTRON P 12 XLM (TOKYO ELECTRON P 12 XLM) 은 웨이퍼의 크기나 모양에 관계없이 웨이퍼 레벨 테스트를 수행 할 수있는 뛰어난 유연성을 갖춘 흑연 난방 장치를 갖추고 있습니다. 또한 자동 단계 정렬 교정기 (Automatic Stage Alignment Calibration Machine) 를 제공하여 DUT를 척에 정확하게 배치할 수 있습니다. 이 도구는 테스트 장비를 설정할 때 필요한, 시간이 많이 드는 수동 정렬 작업을 제거합니다. 또한 TEL/TOKYO ELECTRON P12XLM은 -50 ° C ~ 300 ° C의 광범위한 테스트 온도를 처리 할 수 있습니다. P 12 XLM은 정밀한 고속 스캐닝을 사용하여 설정에 따라 최대 5000 ° m 또는 더 빠른 속도를 측정할 수 있습니다. 인접 사이트에 대한 정확한 3 차원 평가와 결함, 이물질, 기타 이상 (이상) 과 같은 기타 미세한 세부 사항을 평가할 수 있습니다. 다양한 설정으로 시간당 200 개 이상의 샘플을 처리할 수 있는 TOKYO ELECTRON P-12 XLM 은 테스트 시간을 최소로 유지합니다. 성능 측면에서 P-12 XLM은 접착 테스트에서 탁월한 정확성과 해상도를 제공합니다. 프로버의 전형적인 정확도는 ± 6 "m '이고 측정 가능한 범위는 최대 5" m' 입니다. 엄밀한 상황에서도 측정 마진이 필요하지 않은 프로 버 (prober) 기능 측면에서 신뢰성이 높다. 또한, 고속 스캔은 정확하고 안정적인 측정과 매우 낮은 샘플 변동이 보장됩니다. 전반적으로 TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLM은 제조 산업의 변화하는 요구를 위해 개발 된 비용 효율적이고 다재다능한 전문가입니다. 고밀도 (high-precision) 기능과 다양한 어플리케이션을 통해 테스트 및 평가 프로세스를 손쉽게 선택할 수 있습니다. 이 기구 는 강력 한 기구 로서, 확실 히 믿을 만한 결과 를 가져다 줄 것 이며, 돈 에 큰 가치 가 있다.
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