판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9122509

TEL (TOKYO ELECTRON) TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLM은 다양한 공정 및 재료에서 초소형 반도체 요소의 고정밀 측정이 가능한 고급 반도체 웨이퍼 프로버입니다. 전기소음뿐만 아니라 접촉성 (Contact Resistance), 커패시턴스 (Capacitance), 전류 (Current) 및 누출 (Leakage) 값과 같은 장치 특성을 정확하게 읽도록 설계된 다용도 도구입니다. TEL P12XLM에는 고해상도 프로브 헤드 (Probe Head) 가 장착되어 있으며, 작은 형상에서도 각 장치를 측정하기 위해 정확하게 정렬하고 세밀하게 조정할 수 있습니다. 이 프로버 (Prober) 는 또한 열 영향 인자를 최소화하면서 정확한 측정을 보장하기 위해 다양한 기능을 이용합니다. TOKYO ELECTRON P 12 XLM은 샘플 장치의 치수와 유형에 맞게 MFC (movement-formed cell) 간트리 (gantry) 를 갖추고 있으며, 프로 버의 기능을 제어하기 위해 내장 컴퓨터가 내장되어 있습니다. 5 축 포지셔너 (positioner) 와 프로브 시스템 (Probe System) 은 다양한 샘플 유형을 위해 설계되었으며 테스트 지점을 신속하게 찾아 연락합니다. 자동화된 시스템은 수동 개입 없이 샘플 변경 (sample change) 을 수용할 수 있으므로 큰 샘플 크기에 대한 측정 프로세스를 더 빠르게 만들 수 있습니다. 7 인치 wideview LCD 작동 패널을 사용하면 측정 작업과 결과를 보고 제어할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 측정 정확도를 검증하기위한 표준 교정 보드와 유전체 층, 절연 및 질화 실리콘 (silicon nitride) 과 같은 측정하기 어려운 샘플을 교정하기위한 유전체 교정 시트가 포함되어 있습니다. 자동 Probe 복구를 위해 넓은 작업 영역 및 CFD (Contact Fault Detection) 와 같은 다양한 안전 기능이 있습니다. 또한 TEL P-12XLm에는 PROBE Manager (PROBE Manager) 와 같은 여러 소프트웨어 옵션이 포함되어 있어 효과적으로 결과를 제어하고 마케팅용 데이터를 산출하며 SPADE 소프트웨어를 통해 결과를 분석하고 포괄적인 수익률 보고서를 작성할 수 있습니다. P 12 XLM은 반도체 장치 테스트, 신뢰성 연구, 장치 특성, 장치 엔지니어링 등 광범위한 대량 생산 애플리케이션에 사용되는 강력한 도구입니다. '테스트 작업 (Testing Activity)' 을 통해 위험을 줄이고 많은 시간이 소요되는 작업을 최소화할 수 있는 최신 기술로 설계되었습니다. 다양한 프로세스에서 최대의 정확성, 안정성, 반복성을 제공하여, 안정적이고 강력한 반도체 테스트 툴이 됩니다.