판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #293657430
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ID: 293657430
빈티지: 2006
Wafer prober
MVME Rack
No VIP
No 147CON
No OCR
MC01
I/F
316
PST-OPT
PST-I/F
No PST-STD
No SIO
GP-IB
Robot
X and Y Axis arm motor
No X and Y Axis motor driver
No OCR
No laser aligner
Chuck aligner
Manual plate
No C/S Cover
Hot chuck
ASU
X, Y and Z Axis motor
No X, Y and Z Axis driver
Bridge
No tester head adapter
Compressor
Circulator
No temperature controller
Monitor
Hinge
No chiller
Cover
Power supply
2006 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLM은 고급 반도체 테스트를위한 전문가입니다. 이 시스템은 안정성과 성능을 위해 반도체 장치 및 부품을 조사, 테스트하는 데 사용됩니다. TEL P12XLM은 반도체 장치 및 부품의 고급 테스트를위한 혁신적인 프로버 시스템입니다. 소형 (small) 패키지에서 대형 (large) 집적 (integrated) 회로에 이르는 모든 유형의 반도체 장치에 대한 고속 조사 및 테스트를 처리할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 12 XLM의 디자인은 다중 재작업 스테이션 프로세스를 기반으로하며, 다양한 테스트 프로토콜 및 샘플링 사이클을 갖춘 고급 테스트 기능을 제공합니다. TEL/TOKYO ELECTRON P12XLM에는 장치 핀의 모든 프로브를 정확하고 신속하게 포지셔닝하기 위해 고속 서보 모터가 장착되어 있습니다. 또한 장치의 PAD 스캔을위한 5 축 이동이있는 정밀 프로브 암이 특징입니다. 이 Prober는 데이터 처리 용량이 커서 짧은 주기 (Short Cycle) 테스트 및 테스트 프로세스의 미세 튜닝을 지원합니다. 또한 TOKYO ELECTRON P-12XLm에는 고속 데이터 전송 기능이 있어 회로의 고속 디지털 테스트가 가능합니다. TOKYO ELECTRON P-12 XLM (TOKYO ELECTRON P-12 XLM) 은 또한 여러 사용자 인터페이스를 제공하여 시스템 설정과 제어를 단순화합니다. 이 작업은 전용 컨트롤러 프로그램을 사용하는 직접 입력 (direct input) 이나 여러 내장 소프트웨어 제품군에서 선택할 수 있습니다. 또한, 이 검사는 과전압 및 과전류 보호 센서를 통합하여 테스트 중에 장치가 손상되지 않도록 보호합니다. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLM은 반도체의 조사 및 테스트에서 탁월한 성능과 정확성을 제공하는 효율적인 테스트 도구입니다. 산업용 반도체 테스트 어플리케이션에 이상적인 솔루션으로, 베어 보드 (Bare Board) 와 미리 로드된 (Preloaded) 형식으로 제공됩니다. 그 유연성은 반도체의 제조 및 수리에 적합합니다.
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