판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9362193

ID: 9362193
빈티지: 2002
Prober Chuck type: Hot / Cold, Ni Chuck temperature: Ambient ~ +150°C CPU Board: VIP3A GPIB I/F Board SACC Standard HF: HM30 OCR: IS1700 Bracket WAPP Cleaning unit Rear wafer table Hard Disk Drive (HDD) Floppy Disk Drive (FDD) Operating system: Gzz00-V014 08Rj 2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL은 반도체 처리 장비의 주요 생산 업체 인 TEL Corporation에서 설계 및 제조 한 전문가입니다. 이 다기능 증명서는 고급 반도체 장치 테스트 및 특성화용으로 특별히 고안되었으며, 제품 개발, 검증, 후기 수율 학습 (Last-Stage Revield Learning) 시 사용하기에 적합합니다. TEL P12XL은 종합적인 TOKYO ELECTRON 개발 소프트웨어를 실행하는 강력한 고성능 컴퓨터로 구동됩니다. 이 소프트웨어는 자동화된 웨이퍼 로딩, 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 및 테스트 데이터 관리를 지원하므로 빠르고 효율적인 반도체 장치 테스트에 이상적인 툴입니다. 이 장비에는 핀 스포터 (Pin Spotter) 가 장착되어 있으며, 정확한 접촉 지점을 위해 웨이퍼 (Wafer) 의 접촉 사이트에서 레이저 기반 비전을 자동으로 정렬합니다. Prober는 기존의 Probe에서 SEM (Scanning Electron Microscope) 및 AFM (Atomic Force Microscopy) 기반 Probing과 같은 고급 기술까지 다양한 Probe 옵션을 제공하며, 패키지 수준에서 실패를 감지 할 수 있습니다. 또한, 이 적응력이 높은 프로버는 플립 칩 (flip chip) 및 볼 그리드 어레이 (ball-grid array) 를 포함한 모든 유형의 고밀도 기판을 처리 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 12 XL (TOKYO ELECTRON P 12 XL) 은 고속 데이터 획득 및 분석 기능을 통해 제품 변동 문제를 신속하게 감지하고 잠재적 장애 모드를 제거하고 프로세스 변경 성능도 최적화할 수 있습니다. 정확성과 감도 측면에서 TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XL은 코일 & 캔틸레버 (coil & cantilever) 기술과 스테이지 동작 방향의 보상을 결합하여 정적 및 동적 신호의 고정밀 프로브를 보장하도록 설계되었습니다. 또한, 시스템에는 온웨퍼 (on-wafer) 교정기가 장착되어 있으며, 이를 통해 프로브 힘을 세밀하게 조정하여 반복 성과 테스트 정확성을 향상시킬 수 있습니다. 테스트 중단을 최소화하기 위해 TEL P-12 XL은 '제로 오작동 (Zero Malfunction)' 자동 도구 선택 및 작업 시작 장치 (Job Start-up Unit) 를 갖추고 있어 운영자가 장애 없이 최적의 도구를 선택할 수 있습니다. 또한, 이 다용도 머신은 수동 (manual) 또는 로봇 처리 (robotic handling) 를 지원할 수 있으므로 장치 응용 프로그램을 기반으로 매뉴얼에서 로봇 (robotic) 으로 빠르게 전환할 수 있습니다. 전반적으로, TOKYO ELECTRON P12XL은 고급이지만, 고급 반도체 장치 테스트 및 특성화의 요구를 충족하도록 설계된 사용자 친화적 인 전문가입니다. 종합적인 소프트웨어, 다용도 도구 선택, 고정밀도 Probing 기능 덕분에, P 12 XL은 반도체 장치의 빠르고, 정확하고, 신뢰할 수 있는 테스트를 위한 이상적인 도구입니다.
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