판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9222489

ID: 9222489
빈티지: 2005
Prober Wafer on chuck center Alignment center position Alarm monitor Buzzer VAC Sensor: Subchuck Upper pincette Lower pincette Wafer search sensor: 3.0V~3.2V Power: L-N (Voltage+10%) 200-240 V 2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober는 오늘날 가장 까다로운 테스트 및 조사 작업을 위해 설계된 고도의 정밀 프로버입니다. 더욱 심층적인 기능을 갖춘 이 제품은 광범위한 운영, 개발, 유지 보수 (maintenance) 프로세스에 적합합니다. TEL P12XL은 단일, 대형 조리개 100mm x 100mm 면적, 10 미크론 반복 성 및 최대 6mm까지의 확장 된 프로빙 깊이를 통합 한 8 축 장비입니다. 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 와 유연한 업계 표준 제어 인터페이스 (Control Interface) 를 통해 간편한 운영 및 시스템 사용자 정의가 가능합니다. TOKYO ELECTRON P 12 XL은 안정적이고 반복 가능한 조사를 위해 2 개의 정밀 전동 Z 단계를 사용합니다. 이러한 단계는 표준 (Standard) 단계에 의해 이루어지며, 빠른 Probing 및 다양한 Probing 구성을 지원합니다. 전문 소프트웨어 알고리즘을 사용하면 복잡하고 복잡한 Probing 작업을 정확하고 신속하게 수행할 수 있습니다. 견고한 구성과 자동화된 기능을 통해, 가장 까다로운 운영 환경에 적합합니다. 또한 P-12 XL 은 오류 및 오버슈팅을 제거하는 동시에 교정 시간을 최소화하는 혁신적인 교정 (calibration) 장치를 제공합니다. 통합 진단 시스템은 정확하고 반복 가능한 작동을 보장하는 반면, 모듈식 소프트웨어 아키텍처 (modular software architecture) 는 공구 개발 및 사용자 정의를 허용합니다. 또한, P12XL에는 매우 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 와 기능이 장착되어 있어 자산 운영 및 유지 관리 방법을 빠르고 쉽게 배울 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P-12XL은 칩 및 보드 테스트에 적합하며, 대부분의 주요 프로빙 도구와 함께 사용하도록 인증되었습니다. 테스트 영역이 넓기 때문에 대규모 구성 요소, 다중 (multiple) 버스 구조 및 다중 계층 (multilayer) 디바이스를 테스트하는 데 적합합니다. 또한, 이 모델은 수동 (manual) 방식과 반자동 (semi-automated) 방식과도 호환되므로 미세 튜닝 및 테스트가 가능합니다. 전반적으로, TEL P-12XL Prober는 가장 까다로운 테스트 및 조사 요구 사항을 충족하도록 설계된 다재다능하고 강력한 전문가입니다. 탁월한 정확성, 반복 가능성, 사용 편이성 및 기능을 제공합니다. TEL P 12 XL 은 운영, 개발, 유지 보수 프로세스를 한 단계 높이려는 고객에게 탁월한 선택입니다.
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