판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9220058

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL은 반도체 장치 테스트를 위해 설계된 고급 전문가입니다. 고해상도, 고속 레이저 산란계와 안정적이고 조절 가능한 프로브 카드를 결합합니다. 이 조합을 통해 사용자는 반도체 장치의 전기 특성 (예: 접촉 저항, 열 성능) 을 빠르고 정확하게 측정 할 수 있습니다. TEL P12XL의 레이저 산란계는 레이저 광 (laser light) 과 고 확대 광학 (high-magnification optics) 의 조합을 사용하여 장치의 표면 특성을 정확하게 측정합니다. "레이저 '산란계 는 융점 과 접촉 각도 를 측정 할 수 있으며, 굴절률 과 표면 의 거칠기 를 측정 할 수 있다. 광학 장비는 또한 도쿄 전자 P 12 XL (TOKYO ELECTRON P 12 XL) 이 장치 표면의 매우 작은 기능 (예: 미세 회로 흔적 및 솔더 범프) 을 측정 할 수 있습니다. P12XL의 통합 Probe 카드는 안정성과 정확성을 극대화하기 위해 설계되었습니다. 이 카드는 다양한 조정 가능한 프로브 (Probe) 높이와 접촉력을 제공하여 정확하고 반복 가능한 측정을 제공합니다. 이 카드에는 또한 안티 슬립 (anti-slip) 시스템이 있으며, 이는 열 또는 기계적 충격으로 인한 부정확성을 제거하는 데 도움이됩니다. 여기에는 수직 (vertical) 센서와 수평 (horizontal) 센서와 내장 온도 모니터가 모두 포함되어 있어 장치 테스트 조건이 일정하게 유지됩니다. P 12 XL은 정교한 소프트웨어 인터페이스를 사용하여 장치 성능을 빠르고 정확하게 측정합니다. 이 소프트웨어를 사용하면 Contact Force, Temperature, Optical Magnification 등의 디바이스 테스트 매개변수를 신속하게 구성할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 절대 접촉 저항 (absolute contact resistance) 및 예상 값의 편차 (deviation from expected values) 를 포함하여 장치 측정에 대한 정확한 피드백을 제공합니다. 또한 TOKYO ELECTRON P-12 XL에는 강력한 장치 모니터 및 관리 장치가 장착되어 있습니다. 이 장치는 Prober/Connected Device 조건에 대한 실시간 정보를 제공하며, 테스트/저장 결과를 관리할 수 있습니다. 이렇게 하면 결과가 정확하고 재현 가능해집니다. TEL P-12XL은 정확하고 반복 가능한 반도체 장치 테스트를 위해 설계된 고급적이고 신뢰할 수있는 전문가입니다. 고해상도 레이저 산란계와 안정적이고 조절 가능한 프로브 카드 (Probe Card) 를 결합하여 반도체 장치의 전기적 특성을 빠르고 정확하게 측정 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P-12XL 의 정교한 소프트웨어 인터페이스를 사용하면 디바이스 테스트를 빠르고 쉽게 구성하고, 결과를 측정하고, 데이터를 저장하여 재현 가능한 결과를 얻을 수 있습니다. 이 장치에는 고급 머신 모니터 (Advanced Machine Monitor) 와 관리 장치 (Management Unit) 도 장착되어 있어 그 결과가 정확하고 일관성을 유지합니다.