판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9161961

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL은 TEL Company에서 개발 및 제조 한 전문가입니다. 이 제품은 다양한 유형의 반도체 장치의 프로브 (probe) 및 결함 (fault) 격리를 위해 설계된 고성능 비접촉 프로버입니다. 이 다목적 도구는 초집적회로에서 마이크로프로세서에 이르기까지 다양한 응용 분야에 사용되었습니다. TEL P12XL의 핵심 기능은 매우 민감하고, 접촉이없는, 광역 피드백 메커니즘을 갖는 혁신적인 프로브 헤드 (Probe Head) 입니다. 이를 통해 장치와 샘플의 크기가 다르더라도 테스트 대상 장치의 전기적 특성 (Electrical Properties) 을 정확하게 샘플링하고 측정할 수 있습니다. 프로버는 최대 16 개의 서로 다른 전기 매개변수를 동시에 측정할 수 있으며 테스트 중인 장치에서 쇼트 (short), 오픈 (open) 또는 전압 공급 상태를 감지합니다. TOKYO ELECTRON P 12 XL은 Prober의 상태를 나타내는 진단 기능이 내장 된 정교한 MCU (내장 마이크로 컨트롤러 장치) 에 의해 구동됩니다. MCU 의 경우, 수동, 외부, 자동 방법 등 다양한 작동 모드에 대해 Prober 를 액세스 및 구성할 수 있습니다. 따라서 대용량 (High Volume) 생산 환경에서는 수율을 극대화하는 데 도움이 될 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 주로 웨이퍼 레벨 테스트에서 처리량을 향상시키기 위해 설계되었지만, 장애 격리 및 샘플링 (sampling) 을 위한 진단 장비로도 사용할 수 있습니다. "웨이퍼 '와 기타 장치 에서 결함 있는 구성 요소 를 탐지 하는 능력 은 특히 유익 하다. 또한, 고급 촉각 감지 (tactile sensing) 기능을 통해 전문가의 전체 비 접촉 (non-contact) 작동이 가능하므로 장기 대용량 테스트에 안전하고 안정적입니다. 또한, 컴팩트하고 가벼운 설계를 통해 실험실 포지셔닝이 쉽고, 인체 공학적 형태는 테스트 포인트의 모든 영역에 대한 모든 수동 액세스 (manual access) 를 제공합니다. 또한, 이 Prober의 견고하면서도 유연한 설계를 통해 지속적인 시각적 피드백이 필요한 자동화된 시스템/테스트 환경으로의 통합에 적합합니다. 전반적으로 TEL/TOKYO ELECTRON P12XL은 다양한 유형의 반도체 장치에 대한 조사 및 결함 격리를 위해 설계된 혁신적인 전문가입니다. 신뢰할 수있는 비접촉 (non-contact) 및 광역 피드백 (wide-area feedback) 시스템은 대용량 생산 환경에 사용하기에 적합하며, 컴팩트하고 인체 공학적 설계로 자동 테스트 시스템에 통합하기에 적합합니다. 또한, 쉬운 실험실 포지셔닝 및 촉각 감지 (tactile sensing) 기능을 통해 전문가와 초보자 모두에게 안전하고 효율적인 검증을 제공합니다.