판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9161960
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ID: 9161960
빈티지: 2005
Prober
Loader type: Left
Type (Hot / Cold): Hot
VIP: No
147CON: Yes (No HDD)
MR-MC01: Yes
316: Yes
PST-OPT: Yes
PST-STD: Yes
SIO: Yes
GPIB: Yes
FDD: Yes (Damaged)
Signal tower: Yes (Separated)
Monitor: Yes (Separated)
Display driver: Yes
Stage X motor: Yes
Driver: Yes
Stage Y motor: Yes
Driver: Yes
Stage Z motor: Yes
Stage theta motor: No
Chuck top: No
PT Sensor: No
Chuck vacuum solenoid : Yes
Sensor: Yes
Chuck camera: Yes (Separated)
Bridge camera: Yes
Polish pad: Yes
Head plate inter-lock sensor: Yes
Shutter: Yes
Indexer Z axis motor: Yes
Indexer Z-axis belt: Yes
Cassette unit: Yes
Sub-Chuck top: Yes
Motor: Yes
Up / Down cylinder: Yes
Solenoid: Yes
Pincette (Upper): Yes
Motor: Yes
Driver: Yes
Pincette (Lower): Yes
Motor: Yes
Driver: Yes
Loader vaccum solenoid: Yes
Sensor: Yes
Wafer sensor: Yes
OCR Unit: No
SACC Unit: Yes
Control board: Yes
Cover inter-lock sensor: Yes
Shutter: Yes
Probe-card interface: Yes
Sensor: Yes
Manual switch: Yes
Hot chuck controller: Yes
Manipulator: Yes
Main power supply: Yes
Main air / Vacuum fitting: Yes
Main regulator unit: Yes
2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL은 장치 테스트의 정확성과 정확성을 극대화하기 위해 설계된 고성능 프로버입니다. 반도체 웨이퍼 테스트와 wafer level burn-in, RF 측정, 진동 테스트, 전원 장치 테스트, MEMS 테스트 등과 같은 고급 응용 프로그램 모두에서 사용하도록 설계되었습니다. 신뢰할 수 있고 검증된 다양한 구성 요소를 갖춘 TEL P12XL (TEL P12XL) 은 최고 속도에서도 정밀도를 유지하므로 대용량 작업에 적합합니다. Prober는 또한 샘플 이동, 스캔 패턴, 교정, 데이터 처리 등과 같은 다양한 빠른 변경 및 사용자 정의 가능한 옵션을 제공합니다. TOKYO ELECTRON P 12 XL은 웨퍼 틸트 (wafer tilt) 를 최소화하는 높이 센서, 독립 리프트 장비 및 접촉력을 최소화하는 제로 웨어 컨택트 시스템 (Zero-Wear Contact System) 을 포함한 고급 기술을 갖추고 있습니다. 프로버는 또한 구슬 로딩 암 (bead loading Arm), 슬릿 척 (slit chuck) 기계 장치 및 정밀 정렬 기술을 사용하여 오랜 샘플링 기간 동안 안정적인 접촉을 보장합니다. 또한, TEL P 12 XL에는 퍼지 챔버 (purge chamber), 자동 시작 (auto start) 및 자동 교정 기능과 같은 광범위한 자동 기능이 장착 될 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL은 최고 8 인치의 웨이퍼 크기로 최상위 로딩 구성으로 설계되었습니다. 웨이퍼는 전용 핸들러 또는 수동으로 로드할 수 있습니다. 웨이퍼는 쉽게 로드하고 언로드할 수 있으며, P-12XL은 로드당 최대 8 개의 웨이퍼를 수용하여 테스트 처리량 및 속도를 높일 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 통합 6 축 동작 컨트롤러를 사용하여 정확한 샘플 배치 및 제어를 보장하는 고급 단계를 가지고 있습니다. TEL P-12 XL에는 추가 사용자 정의 및 자동화를 위한 통합 툴킷도 있습니다. 여기에는 Contact 및 Non-Contact 테스트 프로브, Active 및 Passive Probe, Reference Probe 등 다양한 Probe와 구성이 포함됩니다. 또한 사용자 지정 스크립트와 프로그램을 만들어 특정 테스트를 자동화할 수 있으며, 데이터 공유 (Share Data) 및 Probe (Store Probe) 구성을 제공하여 테스트 설정을 최적화하고 설정 시간을 단축할 수 있습니다. P 12 XL에는 고급 제어 머신도 있습니다. 고급 제어 머신은 매우 직관적이고 사용자 친화적입니다. GUI 인터페이스는 간편하고 능률적인 제어 기능 (Control and Function) 을 제공하여 명령 패널과 제어 설정에 신속하게 액세스할 수 있습니다. 또한, 이 툴을 모든 시스템의 기존 자산에 통합하여, 외부 하드웨어가 필요 없이 데이터를 제어, 공유할 수 있습니다. 전반적으로 P12XL Prober는 반도체 웨이퍼 (Wafer) 와 고급 어플리케이션 모두에서 정밀도와 정확도를 높이기 위해 다양한 고급 기술과 기능을 제공합니다. 이 Prober는 사용자에게 친숙한 인터페이스와 자동 (Automated) 기능을 통해 테스트를 간소화하고 설치 시간을 단축할 수 있도록 설계되었습니다.
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