판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9131742
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ID: 9131742
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2001
Prober, 12”
Gold
Hot
GP-IB Cable
Head plate
Gas-spring on headplate
Standard monitor
WAPP-20K with brush
Card holder
Printer
Manipulator
Wafer table
OCR: KLA P8-Zoom
SACC: 200/300
Air and vacuum: Fitting
Monitor type: Standard
Boards:
147-CON
VIP3A
GP-IB
TVB9003-1316
PST-STD
PST-OPT
Loader driver
SIO
Frequency:
Standard: 50/60 Hz
Metric: 50/60 Hz
Single phase
200 V
2001 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL은 반도체 칩 및 장치의 효율적인 테스트를 위해 설계된 완전 자동화 프로버입니다. "뉴우요오크 '는 매우 다양 한 반도체 장치 종류 와 크기 의" 테스트' 에 적응 할 수 있는 능력 을 가지고 있으며, 소형 "웨이퍼 '크기 에서 표준 직경 의" 웨이퍼' 및 대형 "웨이퍼 '에 이르는 폭 넓은 크기 를 처리 하도록 설계 되었다. Prober에는 AAS (Advanced Automated Alignment System) 가 있어 장치를 정확하게 정렬하고 신속하게 정렬할 수 있습니다. 또한, 장치에는 정밀 정렬 메커니즘이 있으므로 각 프로브 위치 (Probing Position) 세트를 정확하고 빠르게 측정하고 보정 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 고급 온도 센서 및 컴퓨터 제어 요소를 사용하여 테스트 중 온도를 정확하고 일관되게 측정하고 교정 할 수 있습니다. 따라서, 안정적인 테스트 조건을 달성하고, 디버그 주기의 지속 시간을 단축시킬 수 있습니다. TEL P12XL은 멀티 사이트 테스트 기능도 제공합니다. 각 포지셔닝 사이트마다 4 개의 프로브를 사용할 수 있으며 90도 간격으로 배열됩니다. 이를 통해 4 개 사이트를 동시에 테스트할 수 있으므로 운영 중첩, 처리량 증가 등의 작업을 수행할 수 있습니다. 또한, 장치의 자동 교정 (auto-calibration) 기능을 사용하여 온도 및 환경의 차이점에 관계없이 안정적인 측정을 보장 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 결함 있는 연락처를 인식하고 문제 사이트에서 프로세스를 자동으로 중지할 수 있는 자동 접촉 체크 (automated contact check) 기능도 포함되어 있습니다. 이를 통해 웨이퍼와 장치를 정확하고 효율적으로 테스트할 수 있습니다. 사용자가 테스트 환경을 사용자 정의하고, 기간별 데이터를 보관, 검토하고, 테스트 결과를 비교, 최적화할 수 있는 포괄적이고, 사용자에게 친숙한 소프트웨어 패키지가 제공됩니다. 전반적으로 TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober는 다양한 반도체 칩 및 장치에 대한 신뢰할 수 있고, 비용 효율적이며, 자동화 된 테스트 솔루션을 제공합니다. 온도와 장치 매개변수를 정확하고, 빠르고, 일관되게 측정하고, 조정할 수 있으며, 멀티 사이트 테스트 기능을 제공하며, 정확도 및 처리량 향상을 위한 자동 연락처 (Contact Check) 시스템을 제공합니다.
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