판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293816001
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ID: 293816001
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2002
Prober, 8"-12"
(2) Front Opening Unified Pods (FOUP)
(2) Pincettes
CR385PH High Temperature Thermal Device (HTTD)
D250 Chiller
Linear Time-Invariant (LTI) unit
2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober는 마이크로 전자 부품의 정확한 측정을 위해 설계된 매우 정확한 웨이퍼 프로브 장비입니다. 고성능 시스템인 Prober는 100mm ~ 300mm, 200mm ~ 600mm 크기의 웨이퍼 크기를 측정하는 대규모 작업 공간을 갖추고 있습니다. TEL P12XL Prober는 선 너비, 간격, 접촉 저항, 두께, 외부 접촉 등과 같은 다양한 특성을 측정할 수 있습니다. Prober는 고정밀 자동 중심 회전 장치, 회전 중심을 조정하는 스크럽 드라이브, 저소음 X-Y-Z 스테이지 및 스캐닝 헤드를 포함하는 견고한 디자인을 제공합니다. 이는 노이즈 레벨 (noise level) 이 가장 낮아도 정확한 측정이 가능하며, 안정적인 데이터와 정확한 결과를 보장합니다. 프로버 (Prober) 에는 모든 프로핑 기능을 완벽하게 제어하기 위해 강력한 소프트웨어를 갖춘 고급 웨이퍼 프로빙 머신 (wafer probing machine) 이 장착되어 있습니다. 최첨단 소프트웨어 (State-of-the-art software) 는 그래픽 사용자 인터페이스를 제공하며 사전 실행이 불가능한 상태에서 쉽게 작동할 수 있습니다. 강력한 소프트웨어는 또한 Probing 프로세스를 조정, 관리, 제어하는 데 도움이 되며, 운영자에게 필수 정보에 대한 빠르고 효율적인 액세스를 제공합니다. TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober는 최소 분판 값과 0.05 밀의 정확도로 고정밀 측정을 제공합니다. 첨단 스캐닝 알고리즘과 다양한 감지 헤드 (sensing head) 및 프로브 (probe) 가 장착되어 있어 다양한 전자 부품의 정밀도를 측정할 수 있습니다. 또한 다중 (multiple) 도구 키트를 사용하여 연산자가 올바른 프로브를 빠르고 효과적으로 액세스하고 정확한 측정을 수행할 수 있습니다. Prober는 설치, 유지 관리가 간편하고, 다운타임을 최소화하고, 처리량을 극대화할 수 있도록 설계되었습니다. 최적화된 공기 압력 (air pressure) 과 온도 도구 (temperature tool) 는 입자가 작업 영역에 들어가는 것을 방지하여 최적의 작동 조건을 제공합니다. 프로버 (Prober) 에는 프로브 전후 웨이퍼를 빠르고 효율적으로 청소할 수있는 활성 상판 클리닝 기능도 있습니다. 전반적으로 TEL/TOKYO ELECTRON P12XL Prober는 현대 마이크로 전자 장치 테스트의 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계된 효율적이고 신뢰할 수있는 웨이퍼 프로브 자산입니다. 견고한 설계, 일관된 성능, 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 를 통해 안정성과 효율성을 극대화하면서 정확하고 정확한 측정 결과를 얻을 수 있습니다.
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