판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293605514

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL 리소그래피 프로버는 반도체 산업에서 널리 사용되는 자동 정밀 측정 장비입니다. 반도체 장치, 부품의 품질, 균일성, 신뢰성을 서브미크론 수준에서 자동으로 측정, 모니터링하도록 설계되었습니다. TEL P12XL은 24 개 장치의 데이터를 동시에 수집하고 분석하도록 설계되었습니다. 마이크로레이저 (micro-laser), 광학 (optics), 광전자 (opto-electronics) 와 함께 고급 비접촉 측정 시스템을 사용하여 기기의 미세한 세부 사항을 캡처합니다. 이를 통해 집적 회로 (IC), 박막 트랜지스터 (TFT), 유기 발광 다이오드 (OLED) 및 기타 반도체 구성 요소의 성능을 정밀도, 정확도 및 반복성으로 정확하게 측정하고 모니터링 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P 12 XL은 0.2 미크론의 작은 기능을 측정 할 수 있으며 업계 최고의 처리율을 제공합니다. 자동 장치는 고정밀 웨이퍼 처리 기계, 프로버 스테이지, 샘플 스테이지 및 비전 도구로 구성됩니다. 웨이퍼 처리 에셋은 P12XL이 프로버 스테이지 (Prober Stage) 및 샘플 스테이지 (Sample Stage) 안팎으로 빠르고 정확하게 웨이퍼를 이동하도록 허용합니다. 독점 pSCS (Sample Compensation Model) 는 필요에 따라 자동으로 샘플을 보정하고 배치하여 안정적이고 반복 가능한 결과를 보장합니다. 비전 장비는 독점 알고리즘과 광학 확대 (optical magnification) 를 사용하여 칩, 브레이크, 쇼트, 오픈 등의 표면 기능을 감지하고 분석합니다. 광도, 균일성, 반사도와 같은 저항 및 광학 매개변수를 측정합니다. TEL P-12XL 은 TEL P-12XL 을 통해 섬세한 검사를 빠르고 정확하게 수행할 수 있으므로 모든 디바이스가 엄격한 업계 표준을 충족할 수 있습니다. P-12 XL은 고급 도량형 (Metrology) 및 검사 기능 외에도 데이터 분석 및 프레젠테이션을 위한 다양한 기능을 제공합니다. 이 장치에는 통합 (integrated) 데이터 획득 및 아카이빙 시스템 (automatic measurements and inspections) 이 장착되어 자동 측정 및 검사 과정에서 수집한 데이터를 기록하고 저장합니다. 이 도구의 사용자 친화적 인 GUI (Graphical User Interface) 는 결과를 검토하고 해석하기 위한 직관적인 플랫폼을 제공합니다. 텔/도쿄 전자 P12XL (TEL/TOKYO ELECTRON P12XL) 은 서브미크론 수준에서 반도체 장치 및 부품을 안정적이고 정확하게 측정하고 모니터링하도록 설계된 고급 전문가입니다. 정교한 설계와 자동화된 자산 (Automated Asset) 은 뛰어난 처리량과 정확도를 제공하여 사용자가 디바이스의 품질이 최고 (Par) 로 보장할 수 있도록 합니다.