판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293594867

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL은 생산 테스트 벤치에 사용되는 특수 반도체 프로브입니다. TEL P12XL에는 작고 가벼운 설치 공간이 있어 빈 공간에 사용할 수 있습니다. Probe는 장치 매개변수 측정 (device parameter measurement), 기능 테스트 (functional test), 특성화 (characterization) 등의 다양한 테스트 요구를 처리하도록 설계되었습니다. TOKYO ELECTRON P 12 XL은 다양한 반도체 장치에 대한 고정밀도, 정확한 선형 및 고속 테스트를 통해 측정 할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL은 파라 메트릭 및 기능 테스트와 같은 광범위한 측정 및 분석을 수행 할 수 있습니다. 정밀 측정을위한 동적 보상 모듈 (Dynamic Compensation Module) 과 함께 쉽게 접촉 할 수있는 고급 사다리꼴 분산 프로브 헤드가 장착되어 있습니다. 프로브에는 또한 메모리 측정 모드 (Memory Measurement Mode) 가 포함되어 있으며, 이 모드는 매우 높은 샘플 속도 가속을 제공하면서 웨이퍼 및 다이에서 연속 및/또는 반복적인 측정이 가능합니다. P 12 XL에는 터치 스크린 다기능 디스플레이가 있어, 획득한 데이터를 보고 분석 할 수 있습니다. 이 "디스플레이 '는 반도체" 샘플' 의 실제 크기 를 표시 할 수 있어서 각 시험 결과 의 차이 를 이해 하기 쉽다. Probe에는 스마트 자동 검사 기능, 유연한 모드 전환, 교정/민감도 설정 모드, 광범위한 Probe 팁 등 다양한 사용자 친화적 인 기능도 있습니다. 이러한 모든 기능은 TOKYO ELECTRON P-12 XL을 생산 테스트에 적합한 옵션으로 만드는 데 도움이됩니다. TOKYO ELECTRON P-12XL에는 알람 시스템이 포함되어 있어 높은 정확도 결과를 보장합니다. @ info: whatsthis 또한, 프로브에는 안정적이고 반복 가능한 결과를 위한 통계 데이터 (statistical data) 와 프로브 상태를 지속적으로 모니터링하고 조정하는 통합 교정 모니터 (integrated calibration monitor) 가 장착되어 있습니다. 결론적으로, TOKYO ELECTRON P12XL은 생산 테스트를 위해 특별히 설계된 고급 전문 전문가입니다. 고정밀도, 정확한 선형성, 정확한 측정을위한 동적 보상 모듈, 초고속 샘플링 속도 가속화 (high-high-sample rate acceleration), 스마트 자동 검사 기능 및 유연한 모드 전환을위한 고속 메모리 측정 모드가 장착되어 있습니다. 경보 및 교정 모니터는 생산 테스트에서 생산성과 정확성을 높입니다.