판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON Cellesta-I #9261580

텔/도쿄 전자 셀레스타-I (TEL/TOKYO ELECTRON Cellesta-I) 는 집적 회로의 성능을 테스트하는 데 사용되는 기계 유형 인 프로버입니다. 속도와 정확성을 위해 만들어졌으며, 다양한 수준의 복잡성 (complexity) 에서 장치를 테스트하는 데 사용될 수 있습니다. 이 프로버에는 현재 측정을위한 저렴한 스캐닝 EM 프로브 (Scanning EM Probe) 와 작은 신호를 측정 할 수있는 높은 정확도의 4 점 프로브 (Probe) 가 있습니다. 이 프로버는 또한 저접촉 저항 테스트를위한 고속, 고용량 전기 기계 암을 특징으로합니다. TEL Cellesta-I는 소형 집적 회로 (MICS) 및 IC 어셈블리의 높은 생산성과 정확한 테스트 기능을 위해 설계되었습니다. 이 프로버는 디지털, 아날로그, RF, 광학 및 HVIC 디자인을 포함한 다양한 MICS를 테스트 할 수 있습니다. 이 검사는 현재 측정, 펄스 모양, 로드/풀다운 테스트, 타이밍 측정 등을 포함한 다양한 테스트를 실행하는 데 사용됩니다. 이 Prober에는 빠른 검사와 정확한 테스트 매개변수를 제공하는 고속, 고용량 드라이브 시스템이 있습니다. 또한 다양한 접촉에서 저저항 (low-resistance) 측정을 수행 할 수있는 특별한 4 점 프로브가 있습니다. Prober에는 고급 사용자 인터페이스 (Advanced User Interface) 가 있어 간단하고 직관적인 Prober 작업이 가능합니다. 프로버 (Prober) 를 설치하고 작동시켜 결과를 신속하게 테스트하고 분석할 수 있으며, 따라서 문제가 발생할 수 있는 문제를 신속하게 해결할 수 있습니다. Prober는 통합 데이터베이스 (Integrated Database) 를 통해 모든 테스트 결과를 저장하고 데이터를 손쉽게 컴파일하고 요약할 수 있는 고급 분석 (Advanced Analysis) 기능을 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 보고서를 자동으로 생성할 수 있으며, 이를 통해 테스트 프로세스를 보다 효과적으로 제어할 수 있습니다. 또한 소프트웨어 패키지를 활용하여 테스트 프로세스를 사용자 정의하고 자동화하여 고객 요구 사항을 충족할 수 있습니다 (영문). 프로버 (Prober) 는 또한 테스트의 허위 트리거링 (false triggering of tests) 이나 개방 (open) 또는 단락 (short circuit) 과 같은 실패에 대해 더 세밀한 정보를 생성하는 고급 실패 분석 기능을 가지고 있습니다. 대상 디바이스의 성능, 연락처 및 기능의 작동 방식에 대한 실시간 정보를 제공합니다 (영문). 또한 Failure analysis (장애 분석) 기능을 사용하면 디바이스 테스트 중에 데이터를 수집할 수 있으므로 Failure 의 근본 원인을 보다 효율적으로 파악할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON Cellesta-I prober는 효율적이고 정확한 테스트 툴로서 다양한 복잡성의 MICS 및 IC에서 결함 및 잠재적 설계 문제를 신속하게 식별할 수 있습니다. 고급 테스트 기능을 갖춘 이 제품은 모든 기술 연구소 (Technology Lab) 또는 어셈블리 (Assembly) 시설에 이상적인 테스트 또는 Burn-in 스테이션입니다.