판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 80S #9132188

TEL/TOKYO ELECTRON 80S는 반도체 IC의 전기 테스트 및 고장 분석을 위해 설계된 자동 반도체 웨이퍼 프로버입니다. 이 Probe 스테이션은 정확한 포지셔닝, 높은 정확도 이동 및 디지털 제어 다운 프로브를 제공합니다. 최신 CCD 레이저 기반 정렬 기술과 웨이퍼 레벨 측정을 위한 진공 챔버 (vacuum chamber) 설계를 활용한 완전 자동화 장비를 제공합니다. TEL 80S (Advanced Wafer Loading Prober) 는 프로브 테이블에 반도체 다이를 정확하게 배치 할 수있는 고급 웨이퍼 로딩 프로버입니다. 열 소산 (thermal dissipation) 설계가 낮아 넓은 동적 범위로 온도 조절이 가능합니다. 3 축 스캐닝 및 4 축 프로브 위치 시스템은 이동, 배치 및 프로브 측정에 대한 높은 정확도, 고속 및 마이크로 초 응답을 제공합니다. TOKYO ELECTRON 80S는 웨이퍼 레벨 집적 회로를 조사하기 위해 최적화 된 자동 플랫폼입니다. 플랫폼에는 이상적인 샘플 프로브를 위해 설계된 몇 가지 기능이 있습니다. 최대 8 인치 웨이퍼 크기의 대형 샘플을 처리하기위한 loadlock 장치 및 통합 Auto Chuck 머신 (ACS) 이 있습니다. 통합 비전 (Integrated Vision) 도구는 첫 번째 이미지에서 빠르고 정확한 정렬 및 교정을 제공합니다. 초저 드리프트 진공은 고효율 프로브를 허용합니다. 특허를받은 프로브 홀더 디자인은 작동 중 기계적 손상으로부터 섬세한 프로브를 보호합니다. 80S에는 기능 및 정확도를 높이는 몇 가지 옵션 기능이 있습니다. 여기에는 접촉 및 비접촉 프로빙 시스템, 다중 프로브 인/아웃 기능 (병렬로 여러 다이 액세스용), 빠른 프로브 팁 스페이서 교환, 웨이퍼 보호용 금속 커버, 다양한 청소 옵션 등이 포함됩니다. 프로버는 또한 웨이퍼 방향에 맞게 정렬 된 선택적 in-situ 열 발열이 있습니다. 이렇게 하면 전체 Probe 시간을 줄이고 Probe 핀과 인접한 Pad 사이의 열 그라디언트를 최소화할 수 있습니다. 또한 TEL/TOKYO ELECTRON 80S는 신호 무결성, 모니터링 및 스펙트럼 분석을 포함한 여러 가지 고급 진단 기능을 제공합니다. 고급 디지털 소프트웨어 (Advanced Digital Software) 기능은 테스트 데이터를 저장, 검색, 재생할 뿐만 아니라 Probing 매개변수를 사용자 정의하고 수정할 수 있는 유연성을 제공합니다. 이 플랫폼은 또한 정교한 스크립팅 옵션을 제공하여, 테스트 패턴을 손쉽게 사용자 정의하고 자동화할 수 있습니다. 전반적으로, TEL 80S는 최신 반도체 IC (semiconductor IC) 의 효율적인 조사를 위해 설계된 고급 자동 자산입니다. 정확도, 속도, 전반적인 기능을 통해 빠른 주기 시간으로 어려운 모양을 정확하게 조사 할 수 있습니다. 이 모델은 안정적이며, 여러 가지 옵션으로 구성 가능한 옵션을 제공하여 효율성을 극대화합니다.