판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 78S #9316330

TEL / TOKYO ELECTRON 78S
ID: 9316330
웨이퍼 크기: 8"
Auto prober, 8".
TEL/TOKYO ELECTRON 78S (TEL/TOKYO ELECTRON 78S) 는 반도체 장치, 이산 부품 및 복잡한 집적 회로 어셈블리의 안정적인 테스트 및 측정을 위해 설계된 프로버입니다. 이 고급 도구 (Advanced Tool) 는 업계 최고의 정확성과 정확도를 제공하며, 자동 교정 장비, 인체 공학 디자인과 같은 고급 기능을 제공합니다. TEL 78S는 작고 복잡한 장치 구성에 맞게 특별히 구성된 샘플 플레이팅 및 프로브 패턴을 갖추고 있으며, RF, 마이크로파, 시스템 온 칩 (system-on-chip) 테스트와 같은 미세 피치 장치 관련 프로세스에 적합합니다. TOKYO ELECTRON 78 S는 매우 높은 정확도와 해상도를 측정 할 수있는 4 축 Motorized Probe 장치를 사용합니다. 이 기계는 설정 점과 선형성에 0.3um의 정확도를 가진 5 마일 2 차원 해상도 도구를 사용합니다. TEL 78 S는 경쟁 시장 표준보다 정확도가 높아 초미세 피치 프로브 응용 프로그램을 쉽게 처리합니다. 프로브 힘 정확도는 +/- 0.5mN이며, 신호 무결성 및 기타 기능을 안정적으로 측정 할 수 있습니다. 텔/도쿄 전자 78 S (TEL/TOKYO ELECTRON 78 S) 는 독특한 3 차원 에지 스프링 자산을 통합하여 뛰어난 안정성을 제공하며 계측에 대한 진동 효과를 줄입니다. 소프트 엣지 스프링 (soft edge spring) 기능은 프로빙 프로세스 중 장치 손상을 방지하며 기존 에지 스프링에 비해 더 일관된 접점 (contact point) 을 유지합니다. 이 도구는 또한 접촉 일관성 향상을 위해 장력 설정을 쉽게 조정하는 가벼운 프로브 캐리지 (lightweight probe carriage) 를 제공합니다. 이를 통해 최소 연산자 개입으로 반복 가능한 측정이 가능합니다. TOKYO ELECTRON 78S에는 RF, 마이크로파 및 모델 온 칩 기술에 적용 가능한 다양한 측정 모드가 포함되어 있으므로 기능 확인 및 유지 관리 응용 프로그램이 가능합니다. 78 S 는 강력한 메모리 매핑 (memory-mapped) 작동 장비 메모리 칩 설계를 통해 더 큰 크기의 데이터 파일을 저장하고 관리할 수 있습니다. 인터넷 연결을 통해 쉽게 업데이트를 적용하여 편리하게 사용할 수 있습니다. 사용자 편안함과 효율성을 염두에 두고 설계된 78S는 인체공학적으로 설계된 사용자 콘솔과 함께 LCD 디스플레이 (LCD Display) 와 직관적인 인터페이스 제어 (Interface Control) 를 통합하여 작동이 간편합니다. 콘솔에는 여러 언어 옵션과 Probe 작업 추적을 위한 LED 표시기가 있습니다. 요약하면, TEL/TOKYO ELECTRON 78S는 복잡한 반도체 장치의 테스트 및 측정을 위해 설계된 고급 도구입니다. 대부분의 다른 경쟁사보다 높은 정확도를 제공하며, RF, 마이크로파 및 System-on-chip 기술에 적용 가능한 다양한 측정 모드를 제공합니다. 자동화된 교정 (automated calibration) 및 인체 공학적 설계 (ergonomic design) 와 같은 포함 된 기능은 TEL 78S를 복잡한 장치 테스트에 이상적인 선택으로 만듭니다.
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