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TEL/TOKYO ELECTRON 770-933001-000은 트랜지스터 및 집적 회로 (IC) 와 같은 반도체 장치를 측정하기위한 전문가입니다. 프로버 (Prober) 에는 다양한 반도체 테스트 절차에 사용하기에 적합한 여러 기능이 있습니다. 프로버에는 전압, 전류, 주파수, 임피던스, 커패시턴스, 저항, 채널 수 및 듀티 사이클을 포함한 많은 조정 가능한 매개 변수가 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 다양한 신호 생성기와 다양한 입력 및 출력이 있습니다. 이러한 매개변수를 사용하면 사용자가 Prober의 전기 특성을 제어할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 장치의 물리적 레이아웃과 해당 연결을 매핑하는 방법을 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 낮은 소음 회로와 디스플레이를 가지고 있으며, 이를 통해 테스트 중에 장치를 측정, 모니터링, 조정할 수 있습니다. 또한, 이 디스플레이를 사용하여 디바이스의 물리적 레이아웃과 접속을 매핑할 수 있습니다. Prober에는 여러 가지 안전 및 환경 보호 기능이 있습니다. 전압 측정 회로가 높아 단회로 (short circuit) 와 충격 (shock) 을 방지할 수 있습니다. 프로버는 또한 열 보호, 분리 된 전원 공급 장치 및 자체 포함 된 NIST 추적 가능 교정 시스템을 가지고 있습니다. 이 Prober에는 RF, LAN 및 USB를 포함한 다양한 상호 연결 포트가 있습니다. 사용자는 이러한 포트를 사용하여 Prober를 다른 테스트 장비에 연결할 수 있습니다. Prober에는 Prober의 소프트웨어 제어가 가능한 USB 인터페이스도 있습니다. 따라서 테스트 결과를 원격 제어, 모니터링 및 기록할 수 있습니다. 이 프로버에는 먼지와 습기로부터 보호 할 수있는 내구성 알루미늄 하우징이 있습니다. 이 검사는 정확성과 반복성이 높은 작은 부품을 측정하도록 설계되었습니다. 프로버는 고주파, 저주파, 장기 안정성 등 다양한 성능 매개 변수를 가지고 있습니다. 이 프로버 (Prober) 는 전력 소비가 낮으며 다양한 온도 및 환경 조건에서 작동하도록 설계되었습니다. TEL 770-933001-000 (TEL 770-933001-000) 은 다양한 반도체 테스트 응용 프로그램에 사용되는 데 적합한 고급 전문가입니다. 여기에는 많은 수의 조정 가능 매개변수, 다양한 신호 생성기, 저소음 회로 및 디스플레이, 상호 연결 포트, 리모콘 USB 인터페이스가 있습니다. 이 검사는 또한 다양한 온도 및 환경 조건에서 작동하도록 설계되었습니다. 이 프로버 (Prober) 는 내구성이 뛰어난 알루미늄 하우징을 가지고 있으며, 정확성과 반복성이 높은 작은 부품을 측정하도록 설계되었습니다.
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